资料摘要
资料下载Physical Electronics (PHI) 附属于ULVAC集团,其主要的表面分析仪器有:世界最先进的光电子能谱仪(XPS),灵敏度最高的俄歇电子能谱仪(AES)及三次聚焦飞行时间-二次离子质谱仪(TOF-SIMS)和独特设计的四极杆式动态二次离子质谱仪(D-SIMS),为客户解决全面极具挑战性的材料学难题,并为他们加快新工艺和新产品的研发提供独特的表面分析工具。作为唯一能提供全方位高性能的XPS,AES及S-SIMS和D-SIMS仪器的供应商,PHI是材料表面分析领域当之无愧的领导者。 而高德英特(北京)科技有限公司作为ULVAC-PHI在中国区域销售及售后服务的全权代表,为了更好的服务于用户,及时地将ULVAC-PHI最新的产品资讯和表面分析的应用技巧与中国区域用户分享,近日高德公司登陆仪器信息网(www.instrument.com.cn)。
固态电池中电解质/金属锂界面的XPS-HAXPES表征
简介:原位XPS(常规X射线光电子能谱)结合HAXPES(硬X射线光电子能谱)技术,具备从表面至体相(梯度变化)无损深度分析的能力,为表/界面研究提供了重要的技术支持。
燃料电池电极界面的XPS-HAXPES表征
简介:关键词:燃料电池、XPS-HAXPES、大面积SXI、Mosaic、深剖、StrataPHI、膜厚
GCIB团簇离子尺寸的调控
简介:Ar-GCIB团簇离子尺寸测量配件作为优化GCIB溅射能力的有效工具,能够实现溅射损伤和溅射速率之间的平衡,为新型纳米材料和复杂混合样品的深度分析提供了强大工具。
全新功能-高德公司的技术视频
简介:为了提供更完善的信息资源平台给市场和客户,高德公司增加了一项新功能。使用客户群可以在技术资料中选取技术视频一项,浏览相关的视频。 现在就开始使用我们的最新功能,分享更多有用的资讯吧!
光电子能谱仪(XPS)的自动双束中和功能
简介:当用XPS仪器分析绝缘样品时,样品表面必须保持电中性,即样品表面无静电荷分布。假设样品表面分布有静电荷,就会导致光电子飞出的动能发生变化。通常表面荷电会导致光电子动能减小,即结合能向高端偏移。 为了很好的解决这个问题,ULVAC-PHI公司的XPS设备增加了双束中和枪的功能,中和枪为绝缘样品荷电区域提供了稳定的荷电补偿。
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