资料摘要
资料下载在材料分析表征领域，除了要获得样品表面的成分外，人们还希望了解样品在纵深方向上，不同成分是如何分布，以全面掌握样品的各种信息；X-光电子能谱仪 (X-ray Photoelectron Spectroscopy 简称XPS)，作为一种常规样品表面成分表征手段，除了可以提供样品表面的成分和元素的化学状态，还可以配合溅射离子枪，对样品进行逐层剥离，获取样品在深度方向的成分和化学态信息。最常规的是Ar离子枪，目前，ULVAC-PHI除了提供高性能Ar离子枪外，还可以根据用户特殊的应用需求，提供C60离子枪（10kV，20kV两种）、和气体团簇离子枪Ar-2500 （GCIB）供用户选择。
文献贡献者
固态电池中电解质/金属锂界面的XPS-HAXPES表征
简介：原位XPS（常规X射线光电子能谱）结合HAXPES（硬X射线光电子能谱）技术，具备从表面至体相（梯度变化）无损深度分析的能力，为表/界面研究提供了重要的技术支持。
燃料电池电极界面的XPS-HAXPES表征
简介：关键词：燃料电池、XPS-HAXPES、大面积SXI、Mosaic、深剖、StrataPHI、膜厚
GCIB团簇离子尺寸的调控
简介：Ar-GCIB团簇离子尺寸测量配件作为优化GCIB溅射能力的有效工具，能够实现溅射损伤和溅射速率之间的平衡，为新型纳米材料和复杂混合样品的深度分析提供了强大工具。
全新功能－高德公司的技术视频
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光电子能谱仪（XPS）的自动双束中和功能
简介：当用XPS仪器分析绝缘样品时，样品表面必须保持电中性，即样品表面无静电荷分布。假设样品表面分布有静电荷，就会导致光电子飞出的动能发生变化。通常表面荷电会导致光电子动能减小，即结合能向高端偏移。 为了很好的解决这个问题，ULVAC-PHI公司的XPS设备增加了双束中和枪的功能，中和枪为绝缘样品荷电区域提供了稳定的荷电补偿。
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