资料摘要
资料下载深度剖析可以用来表征特定元素沿着样品深度方向上浓度的变化，拓展XPS在材料分析中的应用，而往往在做深度剖析时，需要预先知道一些样品的信息，及样品的膜层结构，同时也要知道每一层所含有的元素和大概的膜层厚度，以便于深度分析时，设定分析条件。 但是，当样品信息未知的情况下，是否可以确定样品中所含元素，纵深方向上的分布信息呢？对XPS而言，完全没有问题，可以采用全元素深度分析。图1展示了XPS全元素深度分析的图谱。
文献贡献者
固态电池中电解质/金属锂界面的XPS-HAXPES表征
简介：原位XPS（常规X射线光电子能谱）结合HAXPES（硬X射线光电子能谱）技术，具备从表面至体相（梯度变化）无损深度分析的能力，为表/界面研究提供了重要的技术支持。
燃料电池电极界面的XPS-HAXPES表征
简介：关键词：燃料电池、XPS-HAXPES、大面积SXI、Mosaic、深剖、StrataPHI、膜厚
GCIB团簇离子尺寸的调控
简介：Ar-GCIB团簇离子尺寸测量配件作为优化GCIB溅射能力的有效工具，能够实现溅射损伤和溅射速率之间的平衡，为新型纳米材料和复杂混合样品的深度分析提供了强大工具。
全新功能－高德公司的技术视频
简介：为了提供更完善的信息资源平台给市场和客户，高德公司增加了一项新功能。使用客户群可以在技术资料中选取技术视频一项，浏览相关的视频。 现在就开始使用我们的最新功能，分享更多有用的资讯吧！
光电子能谱仪（XPS）的自动双束中和功能
简介：当用XPS仪器分析绝缘样品时，样品表面必须保持电中性，即样品表面无静电荷分布。假设样品表面分布有静电荷，就会导致光电子飞出的动能发生变化。通常表面荷电会导致光电子动能减小，即结合能向高端偏移。 为了很好的解决这个问题，ULVAC-PHI公司的XPS设备增加了双束中和枪的功能，中和枪为绝缘样品荷电区域提供了稳定的荷电补偿。
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