9月1日,昆明理工大学迎来其60周年校庆日。当日,数百名来自海内外的嘉宾、校友代表欢聚一堂,举行庆典大会,共庆昆工60周年华诞。
应昆明理工分析测试中心邀请,高德公司叶上远先生和鲁德凤女士参加了校庆活动并于2014-9-2日上午在昆明理工报告厅举办技术讲座,与各位老师和同学开展技术交流活动。参加会议交流的老师和同学有百人左右,讲座中主要介绍了PHI XPS&AES的原理、功能、应用、数据采集和处理等内容。下午继续和课题组的老师同学们在图书馆会议室讨论XPS和SIMS在锂电池和燃料电池分析中的应用,以及介绍PHI 的MULTIPAK软件等。
此次技术讲座和交流得到了昆工老师同学们的大力支持和积极反馈,让大家更多地了解了表面分析技术XPS和AES在各个行业和领域中的应用。
新闻报道I《焦点访谈》20221206 科技成果 落地生“金”—PHI表面分析技术助力科技成果转化
PHI XPS 用户赏析I东京大学
用户成果赏析I Science:钙钛矿太阳能电池稳定性研究
ULVAC-PHI中国子公司成立仪式暨2023全国表面分析新技术与应用研讨会成功举办
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