2016表面分析技术光电子能谱仪应用研讨会成功召开

20169月,中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所(以下简称苏州纳米所)在苏州成功举办了2016表面分析技术光电子能谱仪应用研讨会。

 

此次研讨会汇聚了来自胜科纳米(苏州)、苏州晶湛半导体、宝钢研究院分析测试中心、大连理工大學、上海师范大学等业界同行及科研机构师生共五十余名精英。与会人员就光电子能谱的最新发展以及应用进行了深入的探讨和交流。此次会议还成功邀请清华大学测试中心李展平教授、台湾中央研究院薛景中教授、高德英特公司叶上远先生以及ULVAC-PHI公司漆原宣昭教授到会并分享了精彩的报告。

 

苏州纳米所是由中国科学院与江苏省人民政府等共同创建的国家研究机构,在表面分析行业内一直是科研方面的领军单位之一。作为此次研讨会的主办方,苏州纳米所对于ULVAC-PHI公司的研发能力和产品制造一贯给予充分的认可和肯定。在此次会议之前,苏州纳米所刚刚向ULVAC-PHI公司采购了多功能扫描式X射线光电子能谱分析仪(PHI5000VersaPraobe II)。苏州纳米所表示将充分利用自己的技术优势,最大限度的发挥该设备的功效。


2016表面分析技术光电子能谱仪应用研讨


高德叶上远先生正在作專業的報告


ULVAC-PHI 漆原宣昭博士正在作專業的報告


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