高德网络讲堂

致各位老师、专家和单位人员：

高德将会在仪器讯息网上进行网络讲堂，讲者为高德的叶上远先生，题目是飞行时间二次离子质谱仪在最新的MS/MS串联技术后的研究应用和突破，现欢迎各位参加。

网络讲堂的详情如下:

日期: 2016年12月02日 (星期五)

时间: 早上十时正至十一时三十分

题目: 飞行时间二次离子质谱仪在最新的MS/MS串联技术后的研究应用和突破

 内容简介: 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）一直被广泛应用在科研和工业领域中，例如在半导体的杂质分析、高技术的微观尺度材料分析以及聚合物和有机材料的剖析中。 TOF-SIMS在表面分析中虽然有着极高的表面灵敏度和亚微米级的空间分辨率等优势，但当每次检测一些添加剂和聚合物组成的混合物时都会面临如何正确解析数据和判定成分的实际困难。为了解决这个问题，ULVAC-PHI公司开发了配备有非破坏性串联质谱（MS/MS）的TOF-SIMS仪器，并将其应用到各种有机材料和生物应用当中。MS / MS的出现不仅使质谱分析变得更容易，而且在对分析结果的判定方面有了实质性的飞跃，不再是对分析结果的猜测，而是获得明确清晰的答案。在本次报告中，我们将详细介绍该仪器和新技术的基础原理及应用，让大家更全面、细致的了解该仪器如何在现今的科研工作中帮忙解决各种实际的问题。

如果有兴趣的话，可在此http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/2218 报名。