PHI MultiPak™ 是ULVAC-PHI公司基于MatLab开发针对X-射线电子能谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES)的专业数据分析软件，采用先进的分析算法实现功能强大的数据分析，可以轻松的实现XPS谱图处理的一些常规功能，例如谱峰自动识别、化学态信息提取、定量分析结果一键输出和谱图分峰拟合操作等等。
PHI MultiPak同时还整合了功能强大的高级算法工具，可以进行大量数据的批量处理和复杂图像处理，快速地执行对样品深度分析和元素Mapping的数据处理。
为不断提升用户的使用体验，ULVAC-PHI近期已发布PHI MultiPak™软件更新版本MulitPak 9.9.2。此更新包括功能改进和新功能添加：
改进与新功能
<文件选择用户界面>包含显示更丰富的文件数据信息，可调整列宽，实现点击次数最小化和更高效的文件夹层次控制等。
<上部工具栏控件> 针对最常用的功能进行了优化。
<标题显示> 显示谱图数据的起飞角(TOA)和离子刻蚀时间，二次电子影像(SXI) 和XPS影像( MAP)视场(Field of View)。
<窗口控制> 窗口最小化功能一键实现所有谱图窗口最小化。
<谱图保存>将来自 PRO/ANG/LIN 文件中当前Cycle/TOA 或Line谱图保存为的单个 SPE 文件。
<窗口显示>在同一工作会话中同时打开 XPS 和 AES 文件；Profile文件显示上可自定义标记。
<扣本底函数> 改善 Smart 扣本底函数功能。
关注
新闻报道I《焦点访谈》20221206 科技成果 落地生“金”—PHI表面分析技术助力科技成果转化
PHI XPS 用户赏析I东京大学
用户成果赏析I Science：钙钛矿太阳能电池稳定性研究
ULVAC-PHI中国子公司成立仪式暨2023全国表面分析新技术与应用研讨会成功举办
相关产品
关注
拨打电话
留言咨询
