电子产品的冷热冲击性能测试方法

上海荣计达仪器科技有限公司

2024/02/19 08:49

电子产品的冷热冲击性能测试方法：

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电子产品的冷热冲击性能测试是用来评估产品在温度变化较快的环境下的性能。高低温冲击试验箱用于测试材料瞬间极高温至极低温的连续环境下所能忍受的程度得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的物理变化。适用于金属、塑料、橡胶、电子机电产品、航空航天、能源材料、医疗化工等材料行业模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验

原理：

1、采用气动控制，提篮在高低温室内切换转移，

2、转换时间短，温度恢复时间短，温变速度快，

3、采用两箱法，新一代外观设计，整体结构紧凑，体积小，提高了工作室的温度均匀性。

4、既可作冷热冲击试验，也可以做单独高温或单独低温使用。

5、备有高档万向滚轮，方便在实验室内移动。

6、真空双层加热观察窗，自带照明。

7、多数据接口，SD卡储存，USB输出，电脑APP远程操作。

常用的测试方法包括以下几个步骤：

1. 设定测试温度范围：根据产品的使用环境和要求，设定测试温度的上限和下限。

2. 将产品预热至高温：将产品放入高温箱中，将温度升至设定的高温。

3. 将产品迅速置于低温环境：在高温条件下，快速将产品转移到低温环境中。