方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | 电子元器件产品 |
检测项目 | |
参考标准 | GB/T2423.25-1992 |
对于低气压试验,通常有低温低气压和高温低气压两种方式,在海拔3000m(70kPa)的地带,主要出现的是低温环境,故采用低温低气压试验考察设备对低气压环境的适应能力。
低气压试验箱测试电子电工试验方法
对于低气压试验,通常有低温低气压和高温低气压两种方式,在海拔3000m(70kPa)的地带,主要出现的是低温环境,故采用低温低气压试验考察设备对低气压环境的适应能力。
按照《GB/T 2423.24-2008》中温度、气压和持续时间的优选组合规定,选择一40℃,70kPa,持续2h的方案。被试设备不包装、不通电置于低气压试验,箱体以不超过1℃/min的速率降至一40℃并达到稳定,再以不超过10kPa/min的速率将试验箱内压力降至70kPa。温度和气压均达到稳定后将被试设备通电,并检测相关功能性能。试验后切断设备电源,将试验箱气压以不超过lOkPa/min的速率恢复至正常大气压,再以不超过1℃/min的速率将试验箱温度恢复至常温。开箱后检查被试设备外观及电气、机械性能。
1、设备要求
低气压试验箱(室)应具有足够的空间以容纳试验样品,并能进行气压和温度控制,能以不超过15kPa/min的速率将气压降至目标压力值,在预定的时间内保持气压。
2、试验方法
将试样置于气压试验箱内,以不超过15kPa/min的速率将气压降至65kPa(±5%),按预定时间、温度持续保压,达到规定的时间后,再以不超过15kPa/min的增压速率充入符合试验室温度的干燥空气至恢复到初始状态。按有关标准规定,检查包装及内装物的损坏情况,并分析试验结果。
3.试验条件
试验条件主要包括低气压值、低气压试验持续时间、试验舱内的温度和重复试验的包装件数量等方面。
当空运时,如果采用的是增压仓飞机,或者采用非增压仓但飞机飞行高度不超过3500m,在进行低气压试验时气压值可采用65kPa。
当非增压仓飞机的飞行高度超过3500m时,运输包装件低气压试验的气压值及温度参数可按图选取。试验持续时间可在2、4、8、16小时内选取。
所依据的标准有:
GB2421-1989《电工电子产品基本环境试验规程总则》
GB/T2423.25-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温/低气压综合试验方法》
GB/T2423.26-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM :高温/低气压综合试验方法》
GB2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法》
GB2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法》
GB/T2424.15-1992《电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则》
GB T 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程 试验M 低气压试验方法
GJB 150.2-1986军用设备环境试验方法 低气压(高度)试验
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