电子元器件高低温循环测试方法

2023/05/06   下载量: 0

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应用领域 电子/电气
检测样本 电子元器件产品
检测项目
参考标准  GB/T 2423.34-2012,IEC 60068-2-38:2009

高低温循环测试(又名高低温循环试验、高低温试验等)主要是针对于电工、电子产品,以及其原器件,及其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。

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电子元器件高低温循环测试方法:

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高低温循环测试(又名高低温循环试验、高低温试验等)主要是针对于电工、电子产品,以及其原器件,及其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。

高低温循环测试是指设定温度从-50保持4个小时后,升温到 +90℃ ,然后,在+90保持4个小时,降温到-50,依次做N个循环。

工业级温度标准为-40℃ ~+85,因为温箱通常会存在温差,为保证到客户端不会因为温度偏差导致测试结果不一致,内部测试建议使用标准温度±5℃温差来测试。

在样品断电的状态下,先将温度下降到-50,保持4个小时;

请勿在样品通电的状态下进行低温测试,非常重要,因为通电状态下,鞋本身就会产生+20°C以上温度,所以,在通电状态下,通常比较容易通过低温测试,必须先将其“冻透”,再次通电进行测试。

开机,对样品进行性能测试,对比性能与常温相比是否正常。

进行老化测试,观察是否有数据对比错误。

升温到+90,保持4个小时,与低温测试相反,升温过程不断电,保持鞋内部的温度一直处于高温状态,高温和低温测试分别重复10次。如果测试过程出现任何一次不能正常工作的状态,则视为测试失败。


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