电子元器件产品null检测 | 电子元件低温高温快速变化性能测试方法温度冲击试验箱-上海荣计达仪器科技有限公司

方案摘要

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应用领域	电子/电气
检测样本	电子元器件产品
检测项目
参考标准	GJB360A-96

冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验，是将试验样品交替暴露于低温和高温空气（或合适的惰性气体）中，使其经受温度快速变化的影响。用以确定元件，设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力。

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配置单

温度冲击试验箱可程式冷热冲击试验箱
型号：GDC系列

¥3000 - 5.4万
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方案详情

电子元件低温高温快速变化性能测试方法温度冲击试验箱：

原理：

冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验，是将试验样品交替暴露于低温和高温空气（或合适的惰性气体）中，使其经受温度快速变化的影响。用以确定元件，设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力。是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，适用的对象包括电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业及国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化。

试验要求：

起始温度要求

虽然一般的冷热冲击试验标准中对冷热冲击试验的起始温度不予提及或不做硬性规定，但这却是试验进行时必须考虑的问题，因为涉及到试验是结束在低温还是高温状态，从而决定了是否需要对产品进行烘干，导致延长试验时间。

如果试验结束在低温标准受试产品从冷热冲击试验箱（室）内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直到样品到到达温度稳定，这一操作难免使试验样品表面产生凝露引入温度对产品的影响。从而改变试验的性质。

试验时间要求

即温度稳定时间小于1h，必有要1h；若大于1h，则用该大于1h的时间；

出10min到3h的5个时间等级，同使用表根据冷热冲击试验箱测得的产品温度稳定时间，采用与其最相近的时间或可选时间等级，直接采用与其最相近的时间作为保持时间；

不规定具体时间或可选时间等级，直接采用产品达到温度稳定的间或产品在环境中真实暴露时间。

温度冲击试验标准

GB/T2423.22-2012试验N：温度变化

GB-T10592-2008 高低温试验箱技术条件

GJB150.3-1986 军用设备环境试验方法--高温试验

GJB360A-96 电子及电气元件试验方法

温度冲击试验的参数

性能指标温度范围 A:-20℃~200℃ B:-40℃~200℃ C:-60℃~200℃

温度误差 ±3℃

温度波动高温室及低温室均±2℃/±0.5℃(恒温时)

样品区承重 10kg 30kg 50kg 60kg

控制系统控制器进口LED数显微电脑集成控制器

精度范围设定精度：温度0.1℃，指示精度：温度0.1℃

制冷系统德国进口谷轮半封闭水式压缩机组

循环系统耐温低噪声空调型电机多叶式离心风轮

温度转换时间 ≤15s（两箱式）；≤5min（三箱式）

温度恢复时间 ≤5 min

温度冲击方法垂直两箱法/垂直三箱法

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文献贡献者

上海荣计达仪器科技有限公司

金牌会员丨第11年

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