型号: | PHECDA-FVS |
产地: | 北京 |
品牌: | 安科慧生 |
评分: |
|
一、核心技术
硬件核心技术:单色化聚焦激发技术
全聚焦双曲面弯晶仅衍射X射线管出射谱中高强特征X射线,将入射到样品的X射线单色化并聚焦到样品一点,因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外,不存在连续散射背景,从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。
软件核心技术:全息基本参数法
XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题,对于不同类型样品的定量分析带来挑战。
全息基本参数法(Holospec FP®)通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算,将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型,基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异,减少分析误差,通过少数标准品的校正即可得到元素精确定量分析结果。
二、特点
1. 微区
PHECDA-FVS最小聚焦到样品点尺寸φ200um,配置四个不同聚焦孔径光斑,软件控制切换,满足微区成像分析和主量与微量元素成分分析。并支持φ200um至φ5000um可定制,并可配置长方形平行光斑入射样品。
2. X-Y Stage
软件控制X-Y Stage载物台精密移动,移动范围±10mm,移动步长10um/step。
3. 成像
微型高清摄像头,垂直与样品平面的摄像光路,放大倍数10~100倍。软件调谐X射线光斑位置和聚焦成像位置一致。
4. 大样品室
较大尺寸样品或不规则样品,可以直接放入样品室,通过摄像头定位,样品室尺寸为280mm(长)*230mm(宽)*70mm(高)。
5. Holospec FP
PHECDA-FVS与Holospec FP的无缝链接,实现镀层、涂层、叠层厚度与成分分析,元素无标定量分析。
三、规格
详细技术参数与应用方案请咨询安科慧生工作人员。
四、应用
微区高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA-FVS与全息基本参数法Holospec FP提供行业解决方案(示例):
安科慧生单波长X射线荧光光谱仪(HS XRF) MERAK-SC
HMET自动富集器
安科慧生高灵敏度X射线荧光光谱仪台式机
安科慧生高灵敏度XRF重金属分析仪PHECDA-PRO
安科慧生便携式高灵敏度XRF重金属分析仪 PHECDA-ECO
安科慧生便携式XRF硫含量分析仪MERAK-TINY
便携式单波长X射线荧光光谱仪MERAK-MINI
水泥全元素X荧光光谱仪
安科慧生MERAK-LEII轻元素分析仪
单波长色散X射线荧光光谱仪DUBHE-1710超低氯分析仪
单波长色散X射线荧光光谱仪DUBHE-1610超低硫含量分析
微区高灵敏度X射线荧光光谱仪
双源单波长激发 能量色散X射线荧光光谱仪
关注
拨打电话
留言咨询