近日,苏州凌光红外科技有限公司(以下简称凌光红外)顺利完成数千万元的A轮融资。本轮融资由飞图创投、IDG资本领投,苏高新融享跟投,由坤远资本担任独家财务顾问。本轮资金主要用于已有电性失效分析设备的扩产、下一代失效分析设备研发以及市场开拓与推广。
凌光红外成立于2021年12月,公司始终坚持正向研发,专注于高端实验室检测仪器的国产化,解决高精设备迫在眉睫的卡脖子问题。自2022年12月以来,在半导体电性失效分析领域,公司先后推出了制冷型锁相红外显微镜(Thermo 100)、非制冷型锁相红外显微镜(Thermo 50)、微光显微镜(InGaAs 100)等检测设备,在多个应用方向(终端、晶圆、功率器件、专业三方检测实验室等)分别交付于头部客户,性能比肩世界一流设备。
失效分析(FA)是芯片工艺中的重要一环,用于定位和分析半导体芯片中的失效问题,对很多关键行业具有重要意义。在电子元器件的生产、测试和使用阶段,还可以通过失效分析及时发现失效和查找失效原因并提高生产效率。
凌光红外所研发的Luxet Thermo系列锁相红外显微镜可以直接快速地透过 IC 正面及背面来找出缺陷的位置。更可在 IC 未开盖的状态下先定位出失效点为 Die 或封装方面问题。该系列广泛应用于功率器件、封装测试、第三代半导体、电路板等客户。
Luxet EMMI系列的微光显微镜主要使用深度制冷近红外显微系统检测IC内部所放出的光子,和Luxet Thermo系列相比,其显微倍数更高,主要适用于漏电场景。
Luxet Thermo 50
凌光红外首席科学家侯达之表示:“非常感谢本轮及前轮投资人的信任。因为亲身经历了科研领域‘卡脖子’的困境,我选择了创业研发道路。这一决定虽有偶然,但更多是时代赋予中国科研人的使命。我坚信,通过我们这一代的努力,能够不断实现高端测试设备的国产化,让中国人可以更自由地参与国际化的科技竞争,不再受限,获得更大的发展空间。”
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