方案摘要
方案下载应用领域 | 半导体 |
检测样本 | 集成电路 |
检测项目 | |
参考标准 | 温控,变温,半导体,芯片 |
HCP621G-PM高低温光电测量系统是新一代探针式的专业系统,该系统采用平行板电容器原理并严格按国际标准设计开发,测试样品既可以是薄膜材料也可以是块体材料,极大地满足了用户的需要,不仅可以实现对样品材料的测量,还可以结合开关切换模块实现单样三样品材料的测量样,变温探针夹具可以实现-190°C~600°C的变温环境,以满足科研多样化的需求。光电测量系统可以直接测量样品的介电常数和介电损耗随温度、频率、时间、偏压等变化的曲线,可以测量阻抗和相位角随温度、频率、偏压、时间等变化的曲线,同时还可以实时保存测量数据等,广泛应用于高校科研院所和企业单位,得到了广大用户的充分认可和信任。
高低温光电测量系统
系统概述
HCP621G-PM高低温光电测量系统是新一代探针式的专业系统,该系统采用平行板电容器原理并严格按国际标准设计开发,测试样品既可以是薄膜材料也可以是块体材料,极大地满足了用户的需要,不仅可以实现对样品材料的测量,还可以结合开关切换模块实现单样三样品材料的测量样,变温探针夹具可以实现-190°C~600°C的变温环境,以满足科研多样化的需求。光电测量系统可以直接测量样品的介电常数和介电损耗随温度、频率、时间、偏压等变化的曲线,可以测量阻抗和相位角随温度、频率、偏压、时间等变化的曲线,同时还可以实时保存测量数据等,广泛应用于高校科研院所和企业单位,得到了广大用户的充分认可和信任。
系统配置组成
由一台计算机,安装系统测量的专业软件,需要配置有一台精密LCR表或者阻抗分析仪,我们推荐选择美国是德科技的产品,它们精密LCR表型号为:E4980A或者E4980AL,阻抗分析仪的型号为:E4990A,另外就是选择美国Instec的温控探针台设备,其中最常用的型号为HCP621G-PM,并包括:控温仪、液氮制冷系统等配件,为了实现三样品循环测试还配置了切换开关和仪器配置的附件组成。
系统的连接
美国Instec的HCP621G-PM有USB通信接口,仪器方面因选用仪器的不同会有不一样的通讯接口,我们这里选用的是美国是德科技的仪器,三路切换开关也带有USB接口,它们都带有USB接口,所以,全用USB来连接到计算机上。
系统功能详细描述
是德科技E4980A精密LCR表
能够提供精度、速度和多功能性的组合,适用于类型广泛的元件的测量。 无论是在低阻抗测量范围还是高阻抗测量范围都具有测试速度快和性能出众的特点,因此对于元器的研发和生产测试以及材料测试来说,它是一个极好的测试仪表。
主要特点:
1、测量精度高:在低阻抗和高阻抗测试量程上均有极为出色的非常低的噪声,大大地提高了测试质量。0.05% 基本阻抗精度,支持开路/ 短路/ 负载补偿,支持电缆延长(1/2/4m)功能。
2、测试速度快:快测量速度保证高产量和降低测试成本。5.6 ms (SHORT),88 ms (MED)
220 ms (LONG)。
3、测试功能灵活:20 Hz 至2 MHz 的测试频率,任何频率时的4 位分辨率,16 种阻抗参数,100 μV 至2 Vrms 和1 μA 至20 mA的可变测试信号,自动电平控制,201 点的可编程列表扫描。
很好的材料的测量电介质材料,测量塑料、陶瓷、印刷电路板及其它电介质材料的介电常数和损耗角正切值。磁性材料测量铁氧体、非晶硅和其它磁性材料的导磁率和损耗角正切值。半导体材料的电容率、导电性和 C-V特性。
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