日本电子 SXES 软X射线分析谱仪

日本电子 SXES 软X射线分析谱仪

参考价:面议
型号: SXES
产地: 日本
品牌: 日本电子
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核心参数
上海禹重实业有限公司
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产品详情

软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相机,实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测,并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析,超过了WDS的能量分辨率。

产品规格

能量分辨率0.3eV(Al-L 光谱图73eV处测试)

获取能量范围:衍射光栅JS50XL的能区50-170eV

获取能量范围:衍射光栅JS50XL的能区70-210eV

分光谱仪艙安装位置:

EPMA的WDS接口:NO.2接口(正面右侧)

FE-SEM的WDS接口(正面左后侧)

分光谱仪尺寸 W 168mm×D 348mm ×H 683mm

* 从接口包括CCD的距离

分光谱仪重量 25kg

适用机型

EPMA : JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200

SEM : JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F

SXES 软X射线分析谱仪.jpg

上海禹重实业有限公司为您提供日本电子 SXES 软X射线分析谱仪,日本电子SXES产地为日本,属于进口X射线能谱仪(EDS),除了日本电子 SXES 软X射线分析谱仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供日本电子 JXA-8230 电子探针显微分析仪、日本电子 JXA-8530F 电子探针显微分析仪、蔡司 Axio Vert.A1研究级倒置式材料显微镜,上海禹重客服电话400-860-5168转3774,售前、售后均可联系。

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