ELEMENT GD PLUS辉光质谱仪

ELEMENT GD PLUS辉光质谱仪

参考价:面议
型号: ELEMENT GD PLUS
产地: 美国
品牌: 赛默飞
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核心参数
上海禹重实业有限公司
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产品详情

Thermo Scientific ELEMENT GD结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器,可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元素,是直接、快速分析高纯样品杂志含量和镀层材料元素组成的最佳工具。

了解如何借助 Thermo Scientific™ ELEMENT GD™ PLUS GD-MS 为固体中高级高纯度材料的直接分析定义新的标准。通过最大限度减少校准和样品制备操作,可提高样品处理量并达到超低检测限,从而使 GD-MS 适合整块金属分析和深度剖析应用。

陶瓷和其他几种非导电粉末使用二次电极法进行分析,从而提供相同水平的灵敏度和数据质量。这使得 GD-MS 成为痕量金属分析的可靠标准方法。

存在于固体样品中的几乎所有元素都可进行常规检测和定量:许多元素的含量低于十亿分率 (ppb) 水平。

µs 脉冲式高流速辉光放电池

  • 采用脉冲放电模式的高灵敏度离子源

  • 广泛可调的溅射速率适用于快速进行整体分析和高级深度剖析应用

  • 使用二级电极进行氧化铝粉末分析

双聚焦质谱仪

  • 高离子传输率和低背景使得信噪比可达亚 ppb 级检测限

  • 高质量分辨率可提供最高水平的选择性和准确度:是无可争议的分析结果的先决条件

十二数量级的自动检测系统

  • 在一次分析中测定基体和超痕量元素,全自动检测器涵盖 12 数量级动态线性范围

  • 直接定量测定基体元素 IBR(离子束比率)

高效率和简单易用的软件包

  • 所有参数均由计算机控制

  • 全自动调谐、分析和数据评估

  • 自动 LIMS 连接性

  • 远程控制和诊断

  • Windows 7

样品周转时间通常少于 10 分钟

  • 能够在一次分析中测定基体元素到超痕量元素

  • 深度剖析涵盖数百微米到一纳米的层厚度

  • 最小化基体效应,便于进行直接定量


上海禹重实业有限公司为您提供赛默飞ELEMENT GD PLUS辉光质谱仪,赛默飞ELEMENT GD PLUS产地为美国,属于进口X射线能谱仪(EDS),除了ELEMENT GD PLUS辉光质谱仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多X射线能谱仪(EDS),上海禹重客服电话400-860-5168转3774,售前、售后均可联系。

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