优尼康科技有限公司
2022
化合物半导体先进技术及应用大会
圆满结束
全体合影,左三为优尼康总经理 李扬
为期二天的 CS CON化合物半导体先进技术及应用大会2022年8月4日于江苏太仓圆满闭幕。
展会现场
欣逢盛会,优尼康科技赞助了本次大会,并携数台仪器参展。其中Profilm3D光学轮廓仪,低成本,高精度,超大的视场范围面积,让光学轮廓测量变得容易承受;Filmetrics R50四探针电阻率测量仪,更是代表了KLA超过45年电阻测量领先技术的巅峰之作。以及Filmetrics膜厚仪,几乎可以测量所有的电介质和半导体材料的厚度,只要是光滑的透明或半透明薄膜均可测量。
设备展示
会议现场
赞助物料
与行业精英交流探讨
在现场和众多行业精英交流探讨,助力化合物半导体的工艺改善,提高产品生产品质。
优尼康参会人员合影
会议虽然结束了,我们的服务还会继续,如果您还有相关的应用问题欢迎联系我们,一起探讨。
我们深耕薄膜测量行业十多年,不论您在薄膜测量方面有什么问题,我们的技术专家都可以为您提供有价值的建议或解决方案。欢迎来电,我们很高兴与您讨论您的应用问题。
咨询电话: 400-186-8882
翌颖科技(上海)有限公司
优尼康将出席第一届氧化镓技术与产业研讨会
展会预告|苏州、深圳双展本周即将开幕!
优尼康2023年会盛典
【新年快乐】优尼康全体同仁提前祝您元旦快乐
相关产品
F54-XY-200薄膜厚度测量仪
Filmetrics F60-t薄膜厚度测量仪
Filmetrics-F32薄膜厚度测量仪
MicroXAM-800 光学轮廓仪
智能型多功能椭偏仪
全自动快速椭偏仪
iNano®纳米压痕仪
纳米压痕仪
AVI-200系列防震台 主动式减震台
Zeta-388白光共聚焦
Zeta-20白光共聚焦
KLA 探针式表面轮廓仪 P-17(台阶仪)
多波长椭偏仪
KLA 探针式表面轮廓仪 P-7(台阶仪)
mini 桌上型主动式隔振台
主动式防震系统
桌上型主动式隔振台
iMicro
KURASHIKI MT-0817隔音箱
KLA Nano Indenter G200X 纳米力学测量仪
KLA Nano Indenter G200 纳米力学测试仪
BOWMAN K系列 高精度镀层测量系统
BOWMAN B系列 高性能XRF镀层测厚仪
UNICORN α500 系列低频消磁系统
AVI-600系列防震台 主动式减震
UVISEL Plus
KLA 纳米力学测试仪 iMicro
KLA iNano 纳米力学测试仪
Lumina AT2 薄膜缺陷检测仪
Lumina AT1薄膜缺陷检测仪
关注
已关注
拨打电话
留言咨询
产品求购