方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | 电子元器件产品 |
检测项目 | 化学性质>元素分析, 其他 |
参考标准 | IPC标准 |
PCB、连接器和半导体等电子元件利用镀层来保护铜表面并提供良好的电接触。国际一流的IPC标准规范涵盖了PCB电镀镀层厚度结构,此类结构具有精确的镀层(包含若干层)厚度,以确保成品元件在器件的预期使用寿命内发挥应有的性能。 磁感应测厚仪可以快速、可靠地测量PCB上的铜层厚度,而台式XRF是测量金、镍、锡、银和钯镀层的首选技术,此类镀层形成了关键部件的电镀接触并保护底层的铜层。当前,在电子元件尺寸和复杂性方面面临着诸多挑战,因此,为该类应用领域选择的镀层厚度测量设备必须专门适用于测量电子元件。
PCB: XRF适用于测量镀层厚度和最终镀层成分,磁感应测厚仪适用于测量孔铜和表面贴装PCB铜层厚度。
连接器: XRF适用于分析微型连接器、引线框架、互连和电缆连接器上的镀层厚度和成分。
半导体晶片: 高精度XRF适用于分析倒装芯片封装和IC基材镀层厚度
HM1000A对邻苯二甲酸酯标准物质的重复性试验
使用通用滤波器减少检测RoHS限制元素的分析时间
铝合金中有害金属物质的测量
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