型号: | X1 FCU Pro |
产地: | 其他国家 |
品牌: | AWSensors |
评分: |
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产品型号:AWS X1
X1系列耗散型石英晶体分析仪基于专利的QCM-D技术,可精确测量石英芯片表面质量和结构变化,提供实时的表面相互作用信息,如吸脱附过程、分子相互作用、蛋白质构象变化等。
QCM-D技术基于声波在石英芯片本体和表面传播的性质变化,精确测量芯片表面吸附膜质量和结构变化。 当芯片表面发生吸脱附反应时,表面波的频率和振幅将发生变化。
当吸脱附反应发生在芯片表面时,表面波的频率和振幅将发生变化。当吸附膜为刚性膜时,频率变化正比于质量变化,根据Sauerbrey方程可计算出吸附膜质量。
吸附膜为柔性膜时,通过测量频率和耗散可获得膜的构象变化。通过倍频测量频率和耗散可拟合得到具体的粘弹性信息。
AWS X1耗散型石英晶体分析仪在倍频下同时监控频率和耗散变化,可以给出吸附膜的质量、粘度、弹性模量、粘性模量和厚度等信息。结合常规QCM芯片、高频QCM芯片和叉指传感器芯片,可精确检测声波在石英本体与表面的传播变化,提高测试的可靠性。
AWS X1系统可兼容标准QCM芯片、高频QCM芯片和叉指传感器芯片。
标准QCM芯片:基频5MHZ,10MHZ
高频QCM芯片:基频50MHZ,100MHZ,150MHZ
叉指传感器芯片:基频120MHZ
AWS-HFF高频QCM芯片与常规QCM-AWS芯片相比品质因子更高,芯片更薄。使用高频芯片,可提高2个数量级的测量灵敏度和分辨率。同时高频芯片面积更小,可节省样品的使用量。专有的支撑框架设计可提高芯片的稳定性和操作的方便性。
样品池采用Q-Lock专利设计,该设计可控制芯片上方的压力,以保证高频率测试时的稳定性和谐波频率的失真最小。操作简单方便可避免操作误差,无论多少次开关样品池,测试都是重复可信的。
除流动样品池外,AWS还提供敞口池、电化学池以及客户定制样品池来满足不同的测试需求。
流动控制单元内置在线脱气功能,同时集成样品、缓冲试剂与废液处理功能,可自动清洗流路。温度控制单元可对试剂和样品进行控温。软件控制6通阀切换,可定量进样。通过简单直观的AWS Suite®软件和可编程的实验步骤,使仪器操作和测试过程变得简单方便。
AWS Suite®软件可控制配套的电化学工作站和采集电化学数据。通过AWS Suite®一个软件可控制两台仪器,同步采集电化学和QCM信号,完美实现电化学与QCM的联用。
软件具有数据分析功能,无需授权码自由安装,可多电脑任意安装使用。
分析模型:Sauerbrey方程(刚性膜),粘弹性模型(柔性膜),Kanazawa方程(牛顿半无限介质),Martin方程(刚性膜+牛顿半无限介质)
用户单位 | 采购时间 |
吉林师范大学 | 2021/12/22 |
中科院苏州生物医学工程技术研究所 | 2018/10/30 |
泉州师范学院 | 2020/12/28 |
太原工业学院 | 2021/09/01 |
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