半导体生产过程中干燥设备微量水含量检测用英国肖氏公司进口露点仪准确无误
在晶体管3AX31、3AX81生产中,为减少空气中水汽、杂负微粒对P—N结的不佳影响,从加料到封帽等工序的操作,均需在通有干燥氮气的操作箱内进行。在缺少干置氮气的情况下,能否用干燥空气代替干燥氮气呢? 本文阐述了制取干燥空气的工艺流程及其装置、分子筛的性能及吸附特性、分子筛的吸附原理及再生和使用中的注意事项。我厂在加料、初测等操作箱内通入了干燥空气,使空气的相对湿度低于15%,达到了工艺要求,明显地提高了晶体管参教的稳定性和可靠性。半导体生产过程中干燥设备微量水含量检测用英国肖氏公司进口露点仪准确无误,主要产品:SADP露点仪|在线露点仪| 肖氏露点传感器|肖氏露点仪|顶空分析仪|药品残氧仪|压缩空气露点仪|Mocon透氧仪|膜康透湿仪|PBI顶空分析仪|露点仪品牌|露点仪价格|露点仪批发|Hitech氧气分析仪|Hitech热导气体分析仪|Hitech氢气分析仪|露点仪厂家
制造况体管时所使用的大都分是含有杂质的半导体材料。对于这种材料,其导电性能往往不是决定于本征激发所产生的载流子,而是决定于材料中所含有的杂质。材料中杂质过多或存在有害杂质,就会严重影响材料灼纯度印晶体结构的完整性,使材料质虽降低,做不出合格率高的晶体管。 暴露在空气中的替芯虽然也能工作,但它的性能是极不稳定的。周围气氛对晶休管特性有很大的影响,」特别是空气申的水汽、杂质微粒如吸附在P一刊结表面上,会使晶体管特性显著变坏,使P一N结反向击穿电压降低、反向截止电流增加、噪声性能变坏,从而使晶体管完全失效。 半导体生产过程中干燥设备微量水含量检测用英国肖氏公司进口露点仪准确无误,某厂以前在操作箱内采用硅胶吸湿,以降低箱内相对湿度6但由于操作箱的移门需经常打开,故相对爆度常在45拓以上,达不到工艺要求。后来经我们大胆设想、反复试验,不断改进完善,制成了干燥空气装置,并成功地将干燥空气应用于半导体生产中,达到了良好的效果。
那么在半导体生产过程中干燥设备的作用就显得非常重要了,测量干燥设备中的微量水含量是重中之重,这里建议您选用英国肖氏露点仪公司进口露点仪来测量和控制干燥设备中微量水的含量,从而保证半导体整个生产工艺的质量。英国SHAW公司具有60多年生产和研发露点仪的历史,其在线露点仪SD3就经常被用在这个应用中。半导体生产过程中干燥设备微量水含量检测用英国肖氏公司进口露点仪准确无误
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