| 型号： | TS2000-IFE Series |
| 产地： | 台湾 |
| 品牌： | MPI |
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MPI TS2000-IFE 是一个自动化平台，可以在现场转换为全自动探测站，它融合了 MPI 先进技术，例如PHC™标准功能，mDrive™或VCE™可选或升级。
测试效率提升
MPI 的 WaferWallet®MAX 是可现场升级的，从多个 100 或 150 或 200 毫米晶圆收集数据，并将测试提升到预生产环境中。具有较快的热转换时间、缩短的浸泡时间、先进的对准技术、晶圆盒或晶圆热/冷交换WaferWallet®MAX 将系统生产力和测试电池效率提高了 10 倍。
先进的对准功能
例如向下看的离轴和卡盘安装的向上看的相机，使 TS2000-IFE 成为在复杂的 RF、mmW 和 SiPh 测量配置中进行测试的理想平台。MPI 光子自动化部门数十年的经验使这些功能高度可靠。Wafer-ID 读取器也可作为选件提供。
IceFreeEnvironment™
结合 MPI 的 IceFreeEnvironment™，TS2000-IFE 可在-60 ° C 至 +300 ° C的宽温度范围内同时使用 MicroPositioner 和探针卡进行测试。该设计缩短了信号路径，从而使探针台成为毫米波和/或负载牵引应用的理想选择。
热卡盘集成
由于集成了智能冷却器，TS2000-IFE 提供了优化的占地面积，以节省实验室的宝贵空间以及最快的热转换时间。MPI 和 ERS 共同设计了新的 PRIME 200 mm 卡盘系列，提供很好的热灵活性，将浸泡时间缩短 60%，并提供广泛的热范围和现场升级。热力系统可以通过使用完全集成的触摸屏显示器进行操作，放置在操作员面前的方便位置，以便快速操作和即时反馈。
集成硬件控制面板
智能硬件控制面板完全集成到探头系统中，基于数十年的经验和客户交互设计，提供更快、更安全、更方便的系统控制和测试操作。键盘和鼠标位于战略位置，可在必要时控制软件，还可控制 Windows®基于仪器。
ERS与AC3 冷却技术合并
这些卡盘采用 AC3 冷却技术和自我管理系统，使用循环冷却空气净化 MPI ShielDEnvironment™，空气消耗量大幅降低 30% 至 50%。
MPI SENTIO®
通过使用基于简单性和真正直观操作的新颖方法，MPI 开发出多点触控探针控制软件套件，以解决当今操作复杂探针测试系统的挑战。MPI 的目标是显着节省培训时间并使操作员的生活尽可能轻松，即使通过操作全自动 TS2000-IFE 探针台也是如此。
1、测试效率显著提高
2、先进的对准功能
3、占地面积更为优化
4、将ERS与AC3冷却技术合并
主要应用是负载牵引、射频、毫米波、 硅光子学、设计验证(产品工程)或在定义的测试环境下测试MEMS和其他传感器。
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