型号: | GaN晶圆级动态功率测试系统 |
产地: | 上海 |
品牌: | 英铂科学仪器 |
评分: |
|
GaN 晶圆级动态参数分析仪(Device Dynamics Analyzer),是目前市面上唯一可在组件操作状态下执行 GaN 动态参数特性及可靠度测试的解决方案,可在组件操作(switching)状态下完成动态 Rdson(HSW,ZVS)、动态 VSD、动态 Vth,PulseIV 等五个动态参数测试分析,并进行实时动态参数监控,来解决在元件操作(switching)状态下执行氮化镓(GaN)动态参数分析的困难,有别于市面上只能量测静态特性或无法在元件操作状态下执行动态分析的功率半导体参数分析仪、功率元件分析仪,来提供晶圆和封装元件动态参数及可靠度测试不仅可协助开发者改善组件,并可帮助用户正确评估组件的功率损耗及老化速率,优化系统设计。
· 可测试 Dynamic Rdson(HSW, ZVS),Dynamic Rsdon(ZVS),Dynamic Vth,Dynamic Vsd,Dynamic HTOL (SALT) …
· 温度、电压、电流、频率、开关比(Duty)皆可独立测试(5 independent parametersacceleration MTTF)
· 同时量测多个 GaN 元件(Multi-DUT in parallel) 动态参数,例如 Dynamic Rdsondegradation
· 可在 hard-switching 或 soft-switching 下执行动态量测
· 高低温测试功能 (25C~175C)
· 提供 On-Vg : -12- 12V 连续变化,可随着不同 DUT Gate
· Rating 做适当调整
· 提供 10kHz~500kHz 可调操作频率
· 提供 10%~90% 可调操作 Duty
· Pulse I-V 脉冲宽度可达到 1us
在元件操作(switching)状态下执行氮化镓(GaN)动态参数分析。
相关产品
Tektronix/Keithley 半导体参数分析仪 S530
MPI TS2000-SE探针台
iwatsu 半导体器件图示仪器CS3000/5000/10000系列
英铂信号测试系统/半导体测试机瞬态热阻测试仪
英铂功率分析仪YBHTOL-1000 功率器件工况老化测试平台
英铂功率分析仪GaN晶圆级动态功率测试系统
滨松HAMAMATSU其它无损设备EMMI微光显微镜 PHEMOS-X
聚能晶源Genettice微流控芯片GaN外延产品
OKMETIC微流控芯片SOI硅片/图案化硅片/单抛片/双抛片
爱德万ADVANTEST失效分析设备TS9001 TDR分析系统
MPI探针台MPI 全自动KGD测试系统MPI Die Prober Series
Farran毫米波太赫兹测试系统Cobalt Fx + TS150-THZ
Farran射频和微波测量系统Farran毫米波 波导测试系统
概伦电子primarius半导体器件测试仪器FS-Pro 半导体参数测试系统
Maury矢量接收机负载牵引系统
关注
拨打电话
留言咨询