HANWA半导体器件测试仪器W5000M 晶圆级ESD测试仪
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HANWA半导体器件测试仪器W5000M 晶圆级ESD测试仪

参考价:¥10万
型号: W5000M 晶圆级ESD测试仪
产地: 日本
品牌: HANWA汉瓦
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产品详情

产品概要:

低成本高性能晶圆ESD测试仪,从LED到系统LSI的大口径Wafer,可适用于HBM和MM的放电 ESD印加后,可根据漏电流测试判断pass/fail 并且可以与ESD测试有关联性的TLP测试设备进行组合测试 对ESD测试中发生问题的器件,能有效取得保护电路中的工作参数,是满足日本、国际标准的高可靠性设备。(满足JEITA/ESDA/JEDEC规格)

基本信息:

技术优势:

1.HBM波形在晶圆级实时捕获

2.符合J EDEC、ESDA和JEITA标准

3.提高效率,使用一个测试仪执行两个测试

4.Zap装置可以安装在探测站上

5.封装级性能可以从晶圆级测试结果推断出来

6.可选HMM zap测试(IEC 61000-4-2)

应用方向:


英铂科学仪器(上海)有限公司为您提供HANWA汉瓦HANWA半导体器件测试仪器W5000M 晶圆级ESD测试仪,HANWA汉瓦W5000M 晶圆级ESD测试仪产地为日本,属于进口半导体器件测试仪器,除了HANWA半导体器件测试仪器W5000M 晶圆级ESD测试仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供MPI高功率探针台TS2000-HP、MPI全自动探针台TS2500、MPI半自动探针台TS3000-SE,英铂科学仪器客服电话400-860-5168转4178,售前、售后均可联系。

行业应用
售后服务
  • 产品货期: 90天
  • 培训服务: 安装调试现场免费培训
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