HANWA半导体器件测试仪器HCE-5000 便携式ESD测试仪
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HANWA半导体器件测试仪器HCE-5000 便携式ESD测试仪

参考价:¥10万
型号: HCE-5000 便携式ESD测试仪
产地: 日本
品牌: HANWA汉瓦
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产品详情

产品概要:

ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。

基本信息:

• 独立的测试系统,便携式空间占用小,性价比高。

• 搭配嵌入式操作屏幕,无需外置PC或Curve tracer可独立完成HBM,MM和漏电测试

• 适应于功率半导体器件及少管脚IC

技术优势:

•易于使用的触摸屏界面,设置可以在没有PC的情况下进行调整

•符合多种标准,满足JEDEC/ESDA/AEC/JEITA对HBM/MM的要求

•泄漏与曲线追踪

应用方向:

ESD静电放电测试。


英铂科学仪器(上海)有限公司为您提供HANWA汉瓦HANWA半导体器件测试仪器HCE-5000 便携式ESD测试仪,HANWA汉瓦HCE-5000 便携式ESD测试仪产地为日本,属于进口半导体器件测试仪器,除了HANWA半导体器件测试仪器HCE-5000 便携式ESD测试仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供MPI TS2000-SE探针台、MPI手动探针台TS150-THZ、HANWA半导体器件测试仪器C5000R 全自动CDM测试仪,英铂科学仪器客服电话400-860-5168转4178,售前、售后均可联系。

售后服务
  • 产品货期: 90天
  • 培训服务: 安装调试现场免费培训
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