KOSAKA台阶仪ET200A台阶仪/粗糙度轮廓仪

KOSAKA台阶仪ET200A台阶仪/粗糙度轮廓仪

参考价:¥20万
型号: ET200A台阶仪/粗糙度轮廓仪
产地: 日本
品牌: KOSAKA
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核心参数
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产品详情

产品概要:

KOSAKA ET200A是KOSAKA新推出的经济型台式两用机型:6寸台阶仪(支持升级到8寸载物台)和粗糙度轮廓仪。可根据用户需求任意组合,是一款带有专用控制器的高精度、高性能的表面粗糙度测量仪器。

基本信息:

极佳重复性与线性度

采用直动式检测方式,可避免圆弧补正误差,可避免Bearing间隙误差;台阶测定重复性:1σ 0.2nm以内,但实际可达0.1nm;Z方向线性度为±0.25% (样品厚度> 2000A);5A (样品厚度≤2000A)

直动式检出器构造

直动式检出器测量边沿效应

重复测量数据 (10 times)

Taylor Hobson 标准样

直动式检出器测量边沿效应

VLSI SHS-9400QC

VLSI SHS-440QC

实时监控测量位置

超高直线度国际认证数据

位移光栅尺与时间取样

形状及粗度解析

粗度规范对应:可对应各种国际新旧标准规范,测量参数多达60种;可测量台阶及倾斜度。

超大测定力范围

测定力在10 ~ 500uN、1~50mgf可任意设定可测定软质材料面,如:COLOR FILTER、SPACER、PI等。

触针保护盖板及方便更换

技术优势:

1、设备主体花岗岩,低热膨胀,低重心,自隔震

2、独特的直动式传感器设计

3、Z方向重复性1σ 0.2nm以内,但实际可达0.1nm

4、Z方向线性度为±0.25% (样品厚度> 2000A);5A (样品厚度≤2000A)

5、样品台的垂直直线度保证:局部0.005um/5mm、全量程0.2um/100mm

6、高精度的X方向位移光栅尺控制,X方向测量长度大至100mm,Y方向可移动150mm

7、自带三维测量功能

应用方向:

主要用于平板显示器、硅片、硬盘等的微细形状台阶/粗度测定,对多种零件表面的粗糙度,波纹度以及原始轮廓进行多参数评定,另外也可利用微小测定力来对应软质样品表面测定。

英铂科学仪器(上海)有限公司为您提供KOSAKA台阶仪ET200A台阶仪/粗糙度轮廓仪,KOSAKAET200A台阶仪/粗糙度轮廓仪产地为日本,属于进口台阶仪,除了KOSAKA台阶仪ET200A台阶仪/粗糙度轮廓仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供英铂科学 极低温开循环真空探针台 (LPS-50)、MPI TS2000-SE探针台、MPI 12寸全自动探针台TS3500,英铂科学仪器客服电话400-860-5168转4178,售前、售后均可联系。

售后服务
  • 产品货期: 180天
  • 培训服务: 安装调试现场免费培训
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