大塚电子otsuka紫外可见近红外光分光光谱仪SC_价格-努美（北京）科技有限公司

otsuka紫外可见近红外光分光光谱仪

参考价：¥25万 - 50万

型号：

产地：

日本

品牌：

大塚电子

评分：

产品详情

紫外可见近红外光分光光谱仪

特点

多通道分光光谱仪高速量测紫外光(UV)、可见光(VIS)、近红外光(NIR)光谱。
功能丰富的专用软体，可进行显微分光、发光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光谱量测。
*适用于低辉度(0.3cd/m2)，如萤光、电浆发光等微弱光以及光源、显示器量测。
16msec的高速光谱解析。
灵活坚固的光纤搭配多元的选配附件，可架设于生产线上、真空环境或嵌入于现有设备中即时性量测。

紫外可见近红外光分光光谱仪量测项目

发光光谱测量
色度测量
透过率?反射率测量

紫外可见近红外光分光光谱仪规格

	28C		310C		3595C		SC
波长范围	220~800 nm		300~1000 nm		350~950 nm		380~780 nm
分光元件	全息成像光栅、F=3、f=135mm
波长精度*1	±0.3 nm		±0.5 nm		±0.3 nm		±0.3 nm
感光元件*2	电子制冷型光电二极管阵列(PDA)
	512ch	1024ch	512ch>	1024ch	512ch	1024ch	512ch	1024ch
解析能力	1.2nm	0.6nm	1.7nm	0.9nm	1.3nm	0.6nm	0.9nm	0.5nm
曝光时间*3	16msec ～ 20sec
光纤规格	石英制光纤、固定口径φ12mm、长约1m
通讯介面	USB or LAN
尺寸重量	300(W)x 170(H)x 350(D)mm、约10kg

*1 波长校正用光源对汞物理辉线之确认值
*2 可选择512ch或1024ch
*3 感度设定为Normal时

应用：

发光光谱分析仪系统
反射光谱分析仪系统
穿透、吸收光谱分析仪系统
色度光谱分析仪系统
光源光谱分析仪系统(色度/辉度/照度)
膜厚光谱分析仪系统
萤光光谱分析仪系统
双折射相位差光谱分析仪
微光学元件光谱分析仪系

努美（北京）科技有限公司为您提供大塚电子otsuka紫外可见近红外光分光光谱仪SC，大塚电子SC产地为日本，属于进口光纤光谱仪，除了otsuka紫外可见近红外光分光光谱仪的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供TMC台式主动隔振平台Everstill K-400、TMC科研级光学平台CleanTop783系列、TMC研究级光学平台CleanTop784系列,努美科技客服电话400-860-5168转4184，售前、售后均可联系。

otsuka紫外可见近红外光分光光谱仪

紫外可见近红外光分光光谱仪量测项目

问商家