| 型号： | CPL-300 |
| 产地： | 日本 |
| 品牌： | 日本分光计器 |
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| 应用领域： |
共3个
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圆偏振荧光光谱仪 型号：CPL-300
概要
手性等化合物在单色光激发下，发射出左右圆偏振光强度不同，这样的现象被叫圆偏振发光现象（CPL）。常规的ECD测量可得到基态手性分子的信息，而CPL能够测量得到激发态手性物资的信息。
CPL-300使用由Steinberg提出的原始180°荧光收集方法。 标准的无臭氧150W Xe灯可由用户更换为Hg / Xe源。 仪器的双棱镜激发和发射单色器提供非常低的杂散光，并且没有衍射光栅引起的杂散线性偏振效应。
规格
| 光源 | 150W 空冷氙灯 (选配:150W 空冷Hg-Xe灯等) |
| 检测器 | 光电子倍增管PMT |
| 调幅器 | 压电弹性调幅器 |
| 电气系统 | 锁定放大器 |
| 单色器 | Ex (激发)Em (发射)部分均为双棱镜单色仪 |
| 测量波长范围 | 250到 850 nm 400 到1100 nm (选配PMT检测器) |
| 波长精度 | ±0.2 nm (250 to 500 nm) ±0.5 nm (500 to 800 nm) ±1.5 nm (800 to 1100 nm) |
| 波长重现性 | ±0.05 nm (250 to 500 nm) ±0.1 nm (500 to 800 nm) ±0.5 nm (800 to 1100 nm) |
| 狭缝宽度 | 1 - 4000 μm |
| 数字积分时间(D.I.T.) | 0.1 msec to 30 sec |
| 扫描方式 | 连续扫描 步进扫描 自动响应时间扫描 |
| 扫描速度 | 最大到10000 nm /min |
| 测光模式 | CD (AC电子元件元件 = CPL)，DC (DC 电子元件=荧光)，HT (高电压f PMT), and AC/DC |
| CPL分辨率 | 0.00001 mdeg |
| 波长分辨率 | 0.025 nm |
| 杂散光 | 小于0.001% |
| 外部输入端子 | 双通道数据采集(输入范围: -1 to 1 V DC) |
| 汞灯 | 用于仪器校准 |
| 遮板 | 在EX激发和Em发射单色器 |
| 样品室 | 150 mm (W) x 310 mm (D) x 165 mm (H) |
| 尺寸 | 2000 mm (W) x 700 mm (D) x 1000 mm (H) |
| 重量 | 180 kg |
| 量程 | ± 8000 mdeg |
| 功率 | 240 V 50/60 Hz, 400 VA |
| 程序软件包 | Spectra Manager 2 |
| 用户单位 | 采购时间 |
| 上海大学 | 2018/07/10 |
| 中国科学院化学研究所 | 2018/06/20 |
| 中国科学院大学 | 2018/05/25 |
| 安徽大学 | 2018/04/16 |
| 同济大学 | 2017/12/20 |
| 南京大学 | 2017/06/05 |
| 南京邮电大学 | 2016/10/10 |
| 华南理工大学 | 2016/07/15 |
| 国家纳米科学中心 | 2013/09/10 |
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