型号: | FM-Nanoview T-AFM |
产地: | 江苏 |
品牌: | |
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技术参数
◆ 基本工作模式:轻敲模式、RMS-Z曲线测量
◆ 选配工作模式:接触模式、F-Z力曲线测量、摩擦力/侧向力、振幅/相位、磁力和静电力
◆ 样品尺寸:Φ≤90mm,H≤20mm
◆ 扫描范围:XY向20um,Z向2um
◆ 扫描分辨率:XY向0.2nm,Z向0.05nm
◆ 样品移动范围:0~13mm
◆ 光学放大倍数4X,光学分辨率2.5um
◆ 扫描速率0.6Hz~4.34Hz,扫描角度0~360°
◆ 扫描控制:XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A
◆ 数据采样:14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样
◆ 反馈方式:DSP数字反馈
◆ 反馈采样速率:64.0KHz
◆ 通信接口:USB2.0/3.0
◆ 运行环境:WindowsXP/7/8/10操作系统
应用范围
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