| 型号： | IN-WS10. |
| 产地： | 山东 |
| 品牌： | 来因科技 |
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一、小麦/高粱/大米作物不完善粒分析仪器简介
不完善粒测定仪是以小麦/高粱/大米等作物不完善粒作为测定对象,在自动获取粮食图像后，通过模式识别或深度学习等技术构建神经网络模型，实时分析粮食特征并计算出不完善粒百分比的专用仪器。
二、小麦/高粱/大米作物不完善粒分析仪产品参数
1、仪器能够按照 GB1351、GB1353、 GB/T 5494、对小麦/高粱/大米/玉米等作物不完善粒及病斑粒、虫蚀粒、破损粒、 生芽粒、生霉粒等分类的定义快速检测不完善粒总量及其分类各项含量。后续通过自主学习可以扩展到多品种作物。
2、检测重量：一次检测量：≥50g。
3、检测速度：每 50g 样品检测时间≤3min。
4、检测精度：双实验允差： ≤0.5%。
5、检测方法：振动送料，高清图像采集,保留样品的原始状态，对样品无破坏。
6、检测结果：以质量百分比为结果输出方式，检测结果包含不完善粒总量及其分项含量。
7、小麦/高粱/大米作物不完善粒分析仪数据处理与存储：自动完成检测数据处理；存储≥二十万张视频图像照片，存储空间不低于 500GB。
8、显示：7寸或10寸屏幕选择，可视化显示界面，触屏功能，直观的菜单导航，整合帮助功能。
9、输出：USB2.0 输出接口和网线接口。数据自动保存，提供历史检测记录的快捷导出功能。
10、系统启动时间：≤1min。菜单语言：中文等。
11、环境适应性：温度：0℃-50℃；湿度：≤85%。
12、环境适应性 温度：0℃-40℃；湿度：≤ 85%。
13、供电 AC220V±20V,50Hz/60Hz
14、功耗：功率不高于 800W。
三、小麦/高粱/大米作物不完善粒分析仪器配置要求
1、不完善粒检测主机 1 台。
2、内置电脑1 台及相应 的操作软件 1 套。
3、使用说明书。
4、出厂合格证。
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