AtomicForceMicroscopy(AFM)原子力显微镜

2020-09-07 10:09  下载量:4

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原子力显微镜(AFM)是扫描探针显微镜(SPM)的一种方法,它是一种测量局部性质(如高度、摩擦力和磁性)的综合技术。AFM 由悬臂末端的尖端作为探针组成,探针通常为3-6μm 高的棱锥体,端部半径为15-40nm,用于测量探针与样品表面之间的作用力。

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