能量色散荧光法检测大气颗粒滤膜样品

2020/05/06   下载量： 0 次

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应用领域 环保
检测样本 空气
检测项目 颗粒物>颗粒物
参考标准 HJ 829-2017 环境空气 颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法

Xenemetrix公司Apollo为高功率二次靶X射线荧光谱仪，适用于空气滤膜检测，完美符合HJ 829-2017标准中相关要求，其性能优于市面上其他所有能量色散荧光设备，尤其在滤膜检测应用中，其探测限优于美国EPA IO-3.3标准要求的所有元素探测限，是目前市面上最好的空气滤膜检测设备，是环保领域中无损分析环境空气颗粒滤膜的最优产品。

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Xenemetrix公司Apollo为高功率二次靶X射线荧光谱仪，适用于空气滤膜检测，完美符合HJ 829-2017标准中相关要求，其性能优于市面上其他所有能量色散荧光设备，尤其在滤膜检测应用中，其探测限优于美国EPA IO-3.3标准要求的所有元素探测限，是目前市面上最好的空气滤膜检测设备，是环保领域中无损分析环境空气颗粒滤膜的最优产品。

详见资料文件。

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文献贡献者

辽宁捷成科技有限公司
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