赛诺普Xenocs小角X射线散射仪进行残余应力和结构测试

2022/11/21   下载量： 0 次

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用GIWAXS进行残余应力和结构测试，与实验室配备标准准直光源的四圆衍射仪进行了对比。

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Ge2Sb2Te5 (GST225) 是光学和相变随机存取器（PCRAM）设备中研究最多的相变材料之一。其热力学性能，如残余应力，是防止其降解的关键。充分了解残余应力有助于理解结晶过程中的体积变化和与之相关的应力形成机制。


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赛诺普（苏州）科学仪器有限公司
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