方案摘要
方案下载应用领域 | 材料 |
检测样本 | 纳米材料 |
检测项目 | |
参考标准 | 暂无 |
纳米颗粒(NPs)是开发改性(如光学、热学或机械性能)新材料的重要组成部分[1]。为了符合性能、成本及安全要求,必须严格控制颗粒大小、形状和浓度等参数。小角X射线散射(SAXS)是一种完善的可追溯性尺寸测量技术[2,3,4]。最近有研究表明,根据同步辐射设施采集的SAXS数据可以确定NPs的数量浓度,且量值溯源到标准单位制(SI)[5]。通过本应用手册我们可以证明,使用SAXS实验室设备,采集时间为10分钟,同样可以获得可溯源数量浓度
SAXS是一种无损技术,可以用非常少的样品来确定样品结构。它不仅可以较大散射体积(通常是1mm3)的统计学相关的定量数据,还可以用于原位测试,所以是对显微镜的有益补充。SAXS对尺寸在1到250nm的颗粒比较敏感,对于大于100nm的颗粒, Nano-inXider的垂直设计有助于在浓度测量中减少沉淀。X射线散射可靠的理论框架使数量浓度的测量可溯源到SI单位,这是它仅与单粒子电感耦合等离子体质谱法(splCPMS)共同的属性。
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