型号: | 12 |
产地: | 德国 |
品牌: | |
评分: |
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纳米探测面临的挑战
· 定位精度
· 安全(软)着陆接触
· 具有适当尖端半径的可靠探针头
· 清洁环境:试验箱、样品、探针头
· 振动敏感性低
· 噪声抑制
· 漂移补偿
· 电路编辑/延迟:在FIB角度操作
优势
电流成像
· 快速图像采集(每帧约5)
· 不需要更容易控制的反馈
· 原位应用,扫描电镜可以用来确定投资回报率
· 与标准钨探针头配合使用
· picoamp分辨率,识别泄漏
· 污染物清除
恰当的高探测工具
· 适应您对工作流程的快速理解
· 相关的光镜和电子显微镜,EBIC/EBAC,电流成像-获得整个图像
· 快速发现故障(开路、短路、连接泄漏、晶体管故障等)
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