德科特思EIGER2 R -DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器

产品详情

EIGER 2 R: 您实验室的新一代混合光子探测技术
EIGER 2 R 集合了所有混合光子计数探测器的先进技术。小尺寸像素与直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以在倒易空间内进行精细的样品测量。优越的计数率性能确保精确测量高强度X射线。利用该探测器系列的巨大动态范围，在零死时间同步读/写的状态下可进行长时间曝光。双能量识别有助于微弱信号和长时间曝光下的深度背景抑制和改善信噪比。由于具备可选择的真空兼容性，空气和窗口所产生的吸收和散射得以减弱。我们提供三种不同的型号满足您的需求。EIGER 2 R集合了所有混合光子计数探测器的先进技术。小尺寸像素与直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以在倒易空间内进行精细的样品测量。优越的计数率性能确保精确测量高强度X射线。利用该探测器系列的巨大动态范围，在零死时间同步读/写的状态下可进行长时间曝光。双能量识别有助于微弱信号和长时间曝光下的深度背景抑制和改善信噪比。由于具备可选择的真空兼容性，空气和窗口所产生的吸收和散射得以减弱。我们提供三种不同的型号满足您的需求。

核心优势

– 由于零背景噪音，出色的计数率和同时读写，

所以具有很高的动态范围
– 直接检测和小像素尺寸以获得光斑分离

和最小背景重叠

– 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景
– 免维护，易于集成，可选真空兼容性

应用领域

– 大分子晶体学(MX)
– 化学晶体学
– 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/
WAXS）
– 粉末衍射（PXRD）
– X射线反射（XRR）

技术规格

EIGER2 R	500K	1M	4M
探测器模块数量	1	1 x 2	2 x 4
有效面积：宽x高 [mm²]	77.2 x 38.6	77.1 x 79.7	155.1 X 162.2
像素大小 [μm²]	75 x 75
点扩散函数	1 pixel
能量阈值	2
阈值范围（KeV）	3.5-30
计数率（cps/mm²）	6.9×10⁸
计数器深度（bit/threshold）	2×16
帧速率 [Hz]	50	100	20
采集模式	同时读/写，死区时间为零
图像位深度（bit）	32
可选真空兼容	Yes
冷却方式	风冷	水冷	水冷
尺寸（WHD）[mm³]	100 x 140 x 93	114 x 133 x 240	235 x 235 x 372
重量 [kg]	1.8	4.7	15

**所有规格如有更改，恕不另行通知。

相关链接

分销商:北京优纳珂科技有限公司仪器信息网 (负责市场同步辐射光源/实验室）

分销商: 北京泰坤工业设备有限公司仪器信息网（OEM 原始设备制造商）

DECTRIS 德科特思为您提供德科特思EIGER2 R -DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器，德科特思EIGER2 R 产地为瑞士，属于X射线探测装置，除了EIGER2 R -DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多X射线探测装置,DECTRIS客服电话，售前、售后均可联系。

型号：	EIGER2 R
产地：	瑞士
品牌：	德科特思
评分：

EIGER2 R -DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器

问商家