型号: | EDX6000E |
产地: | 江苏 |
品牌: | |
评分: |
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1.工作条件:
● 工作温度:15-30℃
● 相对湿度:40%~50%
● 电 源:AC :220V ±5V
2.技术性能及指标:
1. 元素分析范围从硫(S)到铀(U);
2. 元素含量分析范围为2PPm到99.99%;
3. 测量时间:60-200秒;
4. 同时分析镀层层数:最多可达3层
5. 镀层检测厚度范围:0.05-50μm(视材料类型而有所不同)
6. 采用微聚焦准直技术,最小可达Ф0.5mm,应对小样品和不规则样品测试轻松自如。
7. RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)其检测限度高达2PPM;
8. 能量分辨率为149±5电子伏特;
9. 温度适应范围为15℃至30℃;
10 电源:交流220V±5V;
3.产品特点
1.满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
2.打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器时尚大方。
3.采用美国新型的Si-pin探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。
4.采用自主研发的SES信号处理系统,有效提高测量的灵敏度,让测量更精确。
5.一键式自动测试,使用更简单,更方便,更人性化。
6.多重防辐射泄露设计,辐射防护级别属于同类产品高级。
7.先进的一体化散热设计,使整机散热性能得到极大提高,保证了核心部件的运行安全。
8.独有的机芯温控技术,保证X射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。
9.多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。
10.电镀层专用测试软件,标准视窗设计,界面友好,操作方便.
11.本机采用USB2.0接口,有效地保证了数据准确高速有效的传输。
4.仪器硬件部分主要配置 4.1Si-pin电制冷半导体探测器:(新型探测器)
4.1.1. Si-pin电制冷半导体探测器;分辨率:149±5电子伏特
4.1.2. 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测;把探测采集的信息,进一步放大。
4.2 X射线激发装置:
4.2.1. 灯丝电流输出:1mA;
4.2.2 .属于半损耗型部件,50W,空冷。
4.3 高压发射装置:
4.3.1. 电压大输出: 50kV;
4.3.2.最小5kv可控调节
4.3.3.自带电压过载保护
4.4 多道分析器:
4.4.1. 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。
4.4.2 .最大道数: 4096;
4.4.3 包含信号增强处理
4.5光路过滤模块
4.5.1 降低X射线光路发送过程中的干扰,保证探测器接收信号准确。
4.5.2 将准直器与滤光处整合;
4.6 准直器自动切换模块
4.6.1多达7种选择,口径分别为Ф8-1#、Ф8-2#、Ф8-3#、Ф4、Ф2、Ф1、Ф0.5。
4.7 滤光片自动切换模块
4.7.1五种滤光片的自由选择和切换。
4.8 准直器和滤光片的自由组合模块
4.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。
4.9工作曲线自动选择模块
4.9.1 自动选择工作曲线,摒弃手动选择,避免人为操作失误,将自动化和智能化演绎得更完美,使操作更人性,更方便。
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