紫外分光光度计

检测器类型双硅光电二极管

显示器无操作系统Microsoft Windows 7、Windows 8Photometric Accuracy Instrument1 A： ±0.006 A
2 A： ±0.010 A
在 440 nm 处测量，使用已校准中性滤光片类型Evolution 220 紫外-可见光分光光度计，计算机控制，随附欧洲/美国/英国规格电源电缆Wavelength Accuracy±0.5 nm （541.9、546.1 nm 汞线），±0.8 nm（190 - 1100 nm 全范围）Wavelength Range190 至 1100 nm基线平坦度±0.0010 A，200-800 nm，1.0 nm SBW，平滑数据间隔10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1nm描述先进的仪器，直观强大的软件和各种各样的附件，能够始终如一地提供高质量结果并提高工作效率尺寸（长 x 宽 x 高）62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in)漂移<0.0005 A/h，500 nm，1.0 nm SBW，1 h 预热电气要求100-240 V 50-60 Hz，自动选择，最大 150 W物品描述Evolution 220 紫外-可见光分光光度计，计算机控制，随附欧洲/美国/英国规格电源电缆键盘密封膜灯闪烁氙灯，质保 3 年（典型使用寿命为 7 年）噪声0 A：<0.00015 A；
1 A：<0.00025 A；
2 A：<0.00080A；
260 nm，1nm SBW，RMS光学设计双光束（指示样品和参考比色皿位置）；应用聚焦光束几何结构； Czerny-Turner 单色器药典合规性测试（保证性能规格）
分辨率（甲苯-正己烷）： ≥1.8A
光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7)： ±0.010A
杂散光： ≤1% T @ 198 nm：KCI； ≤ - 0.05 %AT @ 220 nm：Nal，Kl
波长准确性： ±0.5 nm，541.9、 546.1 nm Hg 发射线， ±0.8 nm 全量程
波长重复性： ≤0.05 nm，546.1 nm Hg 发射线重复扫描光度显示-0.3 至 4.0A光度范围>3.5 A透射比重复性±0.0002 A扫描纵坐标模式吸光度, % 透射率, % 折射率,Kubelka-Munk,log (1/R),log (Abs),Abs*因子,强度扫描速度< 1-6000 nm/min，可变光谱带宽可变：1.0nm；2.0nm；优化的 AFBG 微量样品池；优化的 AFBG 光纤；优化的 AFBG 材料波长重复性≤0.05nm （546.11 nm 汞谱线，10 次测量的 SD）重量（英制）32 lb重量（公制）14.4 kgUnit SizeEach