型号: | CV-3200/4500 |
产地: | 日本 |
品牌: | |
评分: |
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一、公司介绍
日本三丰Mitutoyo公司自一九三四年创业以来,以“质量第一”为宗旨,向全球范围的广大市场提供千分尺、卡尺等量具以及三坐标测量机、形状测量系统、视像测量系统及光学仪器等系统精密测量仪,长期以来深受广大用户的喜爱和支持。现今,更有幸作为精密测量仪的综合制造商和世界知名品牌的拥有者向社会作出贡献。
二、完善的高精度轮廓测量仪
• CV-3200/4500 系列是在Z1 轴(检出器) 上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂的轮廓测量仪。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹,以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比,新测臂使Z1轴测量范围增大了10mm 同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件,单此接触就能完成测臂的装卸,提高了易用性。
• 专为CV-4500 系列增加了以下两大特性:
(1) 装配双面测针,实现垂直方向(上/下) 连续测量,所获取的数据实现简单分析以往难以测量的内螺纹有效直径。
(2) 测力可在FORMTRACEPAK 软件中设置。无需调整配重位置。
三、技术参数
货号 | CV-3200S4 | CV-3200H4 | CV-3200W4 | CV-3200S8 | CV-3200H8 | CV-3200W8 | ||
CV-4500S4 | CV-4500H4 | CV-4500W4 | CV-4500S8 | CV-4500H8 | CV-4500W8 | |||
测量 | X 轴 | 100mm | 200mm | |||||
Z1 轴(检出器) | 60mm (水平位置±30mm) | |||||||
Z2 轴 (立柱) 移动范围 | 300mm | 500mm | 300mm | 500mm | ||||
| 光栅尺类型 | 弧形 | ||||||
分辨力 | CV-3200 系列: 0.04μm, CV-4500 系列: 0.02μm | |||||||
测针上/ 下运作 | 弧形移动 | |||||||
测量方向 | 向前/ 向后 | |||||||
测针方向 | CV-3200 系列: 垂直方向 (向上/ 向下单独测量) | |||||||
测力 | CV-3200 系列: 30mN (上下可连续测量) | |||||||
跟踪角度 | 向上: 77o, 向下: 83o(根据表面粗糙度,使用标准单切面测针*1) | |||||||
| 长度基准 | X 轴 | 激光全息光栅尺 | |||||
Z2 轴 (立柱) | ABS 光栅尺 | |||||||
分辨力 | X 轴 | 0.05 μm | ||||||
Z2 轴 (立柱) | 1 μm | |||||||
驱动速度 | X 轴 | 0 - 80mm/s 外加手动 | ||||||
Z2 轴 (立柱) | 0 - 30mm/s 外加手动 | |||||||
测量速度 | X 轴 | 0.02 - 5mm/s | ||||||
直线度*2 | X 轴 | 0.8μm/100mm | 2μm/200mm | |||||
倾角范围 | X 轴 | ±45o | ||||||
| | | ±(0.8+0.01L)μm L = 驱动长度 (mm) | ±(0.8+0.02L)μm L = 驱动长度 (mm) | ||||
Z1 轴(检出器) | ±(1.6+|2H|/100)μm H = 水平位置上的测量高度 (mm) | |||||||
| | ±(0.8+0.01L)μm L = 驱动长度 (mm) | ±(0.8+0.02L)μm L = 驱动长度 (mm) | |||||
Z1 轴(检出器) | ±(0.8+|2H|/100)μm H = 水平位置上的测量高度 (mm) | |||||||
外形尺寸 (W×D×H) | 主机*3 | 756×482x | 756×482x | 1156×482 | 766×482 | 766×482 | 1166×482 | |
重量 | 主机 | 140kg | 150kg | 220kg | 140kg | 150kg | 220kg |
*1: SPH-71 (No.354884)
*2: X 轴水平位置时
*3: 主机材料为花岗岩
注: 虽然天然石材测量桌的外观各有不同,但材料的稳定性是值得信赖的。
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