德国 ARGOS2光学元件表面内部缺陷检测系统

ARGOS是一种设计用于自动分类透明和反射表面缺陷的机台。ARGOS使用一台线扫描相机结合一个旋转台和高功率LED光源捕捉样品的高分辨率图像。表面缺陷被确认和分辨，按照ISO 0110-7和ISO 14997标准应用校准图像和处理算法。

ARGOS中路8.5KG，尺寸 35.5cm x 74cm x 34 cm（W x h x d）。控制单元重量21kg，尺寸 53cm x 74 cm x 58cm）。

表面材料：玻璃，金属，半导体，塑料，晶体

德国 Dioptic GmbH公司的ARGOS 2表面缺陷测试系统， ARGOS2测试系统能够执行 合格/不合格 评估并提供可供日后分析的完整测试报告。该测量方法符合 ISO 10110 7 和 ISO 14997 标准，在暗场结构中使用了杂散光分析。测量原理是使用超高分辨率线扫描相机聚焦到样品表面成像，直接测量光学元件等样品的缺陷（划痕，坑，崩边等）并得到缺陷的量化数据，测量速度快每次仅几秒钟时间，适用于研发和生产应用。可以测试亚表面和内部缺陷。

        Dioptic GmbH公司成立于1999年，现有主要产品/服务有：光学设计/衍射光学元件/红外光学元件/表面缺陷测试系统ARGOS（光学元件缺陷检测、光纤端面缺陷检测）。        

smallest ISO specification 5/ 1x0.016; C1x0.04; L1x0.01; E 0.04 evaluates down to 16% of specified dig size
and 25% of specified scratch size
repeatability > 98% for 5/ 1x0.16 assessment to same grade number
> 95% for 5/ 1x0.04
visibility < 1 μm visible defects smaller than 2.5 μm are
evaluated as grade number 0.0025 due
to optical resolutionrepeatability
precision < 1 μm standard deviation for 30 reinsertions
of the same reference sample
trueness < 2 μm (dig) proximity of inspection results to the true
< 1 μm (scratch) value