| 型号： | 上海众林 |
| 产地： | 美国 |
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荧光法残氧顶空分析仪是光学感应的荧光衰减法检测原理、药品顶空氧分析仪顶空氧及液体溶解氧同时分析检测、残氧仪 / 顶空分析仪/ X-325i微顶空残氧/溶氧分析仪的多功能分析仪支持无损检测分析、微顶空残氧/溶氧分析仪只需要极少的样气量，*少0.1ml。
型号：X-325i
荧光法残氧顶空分析仪X-325i是一款常用于制药行业集顶空残氧/溶解氧的多功能分析仪。这款设备是基于光学感应的荧光衰减法检测原理，顶空分析过程不对样品进行采样，对顶空样气体积及顶空条件（如负压）无要求，*小样气量仅需0.1ml即可完成分析。有别于传统方法 诸如电化学、氧化锆等对样气量、顶空条件（负压）有要求的采样分析方式。
使用荧光法特质的荧光贴片OXYDOT ，可以实现无损检测分析，应用于长期的包装稳定性研究。也可应用于溶液配液罐顶空残氧分析。
特征：
● 零样气消耗，只需要极少的样气量，*少0.1ml
● 可实现对顶空氧及液体溶解氧同时分析检测
● 自动生成数据随时间变化曲线
● 内置温度和压力补偿
● 支持无损检测分析，实现留样分析
● 传感器免维护，无需更换
● 设备零维护，零耗材
● 数据自动无限储存，PDF导出
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