日立X荧光镀层测厚仪FT150系列

日立X荧光镀层测厚仪FT150系列

参考价:¥50万 - 100万
型号: FT150
产地: 日本
品牌: 日立
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核心参数
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产品详情

通过采用新开发的多毛细管,以及对探测器的优化,在实现照射半径等同于旧有型号FT9500X30 μm(设想FWHM 17 μm)的基础上,进一步将处理能力提高到了2倍以上。

 

产品阵容适应各类检测样本

针对检测样本的不同种类,可在下列3种型号中进行选择

测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号

能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号

适合对陶瓷芯片电极部分中,过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型号

 

兼顾易操作性与安全性

 放大了开口,同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入检测样本的操作简便性,并且该密封结构也大大减少了X射线泄漏的风险,让用户放心使用。

 

检测部位可见

 通过设置大型观察窗、修改部件布局,使得样本室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位。

 

清晰的样本图像

 使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头,采用全数码变焦,从而消除位置偏差,可以清晰地观察数十μm的微小样本。

另外,亦采用LED作为样本观察灯,无需像以往的机型那样对灯泡进行更换。

 

GUI

〉将各类检测方法、检测样本都以应用程序图标的形式进行了登记。图标皆为检测样本的照片、多层膜的图示等,因此登记、整理起来就很方便,从而使得用户可以不走弯路,直接进行检测。

〉使用检测向导窗口来指导操作。通过与检测画面联动,逐步引导用户执行当前所需进行的工作。



                  FT150                

         FT150L                

FT150H                

测量元素                

ALZ13)~UZ92                

ALZ13)~UZ92                

ALZ13)~UZ92                

X射线管                

Mo靶材                

               

W靶材                

管电压:45KV管电流:1mA以下                

               

               

检测器                

Si半导体检测器(SDD                

               

               

照射径                

Ф:30μm (FWHM:17μm)                

               

Ф:35μm (FWHM:20μm)                

样品观察                

CCD摄像头                

               


样品尺寸                

400mm×300mm×100mm                

600mm×600mm×20mm                

400mm×300mm×100mm                

最大样品重量                

10Kg                

               

               

应用程序                

定性分析                

               

               

薄膜检量线(单层、2层、2成分合金单层膜)                

               

               

薄膜FP法(最多可测量5层、10个元素)等                

               

               

报告功能                

Microsoft Word/Excel                

               

               

电源                

AC100-240V                

               

               

仪器尺寸                

930mm×900mm×710mm                

1030mm×1200mm×710mm                

930mm×900mm×710mm                

仪器重量                

160Kg                

170Kg                

160Kg


 具体的参数与应用方案请与天禧仪器销售人员联系

深圳市天禧仪器有限公司为您提供日立X荧光镀层测厚仪FT150系列,日立FT150产地为日本,属于进口X射线荧光测厚仪,除了日立X荧光镀层测厚仪FT150系列的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多X射线荧光测厚仪,天禧仪器客服电话,售前、售后均可联系。

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