i-CHEQ F2-5100--无损样品分析 一键式检测
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i-CHEQ F2-5100--无损样品分析 一键式检测

参考价:面议
型号: F2-5100
产地: 其他地区
品牌: 艾克
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核心参数
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产品详情

艾克手持式合金分析仪设计:

1. “一键式”开机并检测。

2. 重量轻、体积小,检测头为尖嘴设计,适用于狭小部位。

3. 可进行现场无损样品分析,确定样品中的元素种类。

4. 开机一次,待机长不用关闭电源,无检测操作时自动待机,同时光管及探测器断电停止工作。=5. 1/3机身为轻质铝合金结构,具有优良的散热效果。6. 开机优于同类仪器;测试速度快,1-3秒内身份等级鉴定

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仪器工作原理说明

XRF就是X射线荧光光谱分析仪(X Ray Fluorescence Spectrometer) 。

人们常常把X射线照射在物质上所产生的次级X射线叫X射线荧光,而把用来照射的X射线叫原级X射线。

当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12~10-14S,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。

当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X射线荧光(特征X射线),其能量等于两能级之间的能量差。

特征X射线荧光产生:碰撞→跃迁↑(高) →空穴→跃迁↓(低)

场景图.jpg

不同元素发出的特征X射线荧光能量和波长各不相同,因此通过对其的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,进行元素的定性分析。线强度跟这元素在样品中的含量有关,因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。

 


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