晶格SZT-C快速恒压四探针测试仪测试台
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参考价:¥1000
型号: SZT-C
产地: 江苏
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SZT-C型快速恒压四探针测试台

产品介绍

测薄膜导电性

                                                                  1.1 SZT-C型测试台结构示意图 

       SZT-C型快速恒压四探针测试台,主要有载物台(180mmX180mm净载物面结)、双轨垂直导向单元、测试压力调节单元、探头快速升降扳手(顶部戴红套部分)、探头连接板等单元!


二、 使用方法

2.1放置样品:将测试台上部操作扳手向上向后、向上升起测试台探头,如图1.1,将样品放在探头下方测试台板上,然后将测试台上部操作扳手向前向下,压下探头。如图1.2!

2.2压力调整:在探头压下的状态下,可根据样品厚度及压力要求,调节测试台导轨支架中部螺杆上的螺母(先松开锁紧螺帽),观察探头探针压下程度,调节测试压力!(弹簧压缩量0~20mm,探针缩进量0~4mm,对应探头压力0~2.0K公斤),调好后,锁紧锁紧螺帽。

如图 2.1和2.2.

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图2.1 测试压力调整螺母示意图       

苏州晶格电子有限公司为您提供晶格SZT-C快速恒压四探针测试仪测试台,nullSZT-C产地为江苏,属于四探针方阻测试仪,除了晶格SZT-C快速恒压四探针测试仪测试台的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供晶格M-3方块电阻仪ITO膜方阻仪、ST2258C四探针体电阻率测试仪,晶格电子客服电话,售前、售后均可联系。

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