型号: | GMATG· |
产地: | 广东 |
品牌: | |
评分: |
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FEI Quanta Inspect低真空扫描电子显微镜
1.设备生产日期:2013年,设备目前在使用状态,一切良好
2.设备到位时间:合同签订后,预付6个月押金后的1个月内。
3.金鉴承诺服务:
(1)安装调试,使用培训
(2)3个月保修
(3)过保修期,配件,耗材客户自行找二手设备商更换,金鉴可帮介绍二手设备商
4.设备特点:
(1)分辨率高,放大2万倍依然很清晰
(2)原价180万,配置高,探头多。相对于传统配置,多了红外探头、低真空模式探头和背散射探头
(3)其低真空模式二次电子探头
5.设备参数:
FEI Quanta Inspect低真空扫描电子显微镜
Quanta Inspect Specifications(Quanta Inspect 低真空扫描电子显微镜技术参数)
Resolution(分辨率):
- 3.0nm @30 kV High vacuum mode(高真空模式下30 kV时,3.0nm)
- 3.0nm @30 kV Low vacuum mode(低真空模式下30 kV时,3.0nm)
Magnification(放大倍数):
- 7x to 600,000x连续可调
Accelerating voltage(加速电压):
- 200V to 30 kV (200V~30kV)连续可调
Filament(灯丝)
- W. hairpin filament(钨灯丝)
Maximum probe current(最大束流):
- 2μA
Chamber vacuum(样品室真空):
- 6x10-4 to 270Pa(6x10-4 ~270Pa )
Two modes: high vacuum, low vacuum(两种模式:高真空,低真空)
Vacuum system(真空系统):
- 1x250 Vs TMP(1个250 Vs分子涡轮膜)
- 2x2 PVP (2个机械泵)
- Through-the-lens differential pumping(透镜内距差真空系统)
Detectors(探测器):
- Eyehardt Thornley SED(高真空模式E-T二次电子探头)
- Large Field Gaseous SED(低真空模式LF GSED 二次电子探头)
- IR-CCD (红外CCD机)
- Solid-State SED(固体电子探头)
Chamber(样品室)
-284nm left to right(左右长度284nm)
-10nm analysis WD (10nm 分析二次距离)
Image processor(图像处理):
- Up to 3584x3094 pixels(最大3584x3094像素)
- File type: TIFF(8 or 16 bit), BMP, or JPEG(图像格式:TIFF,BMP或JPEG)
Image display (图像显示):
-17’’LCD,SVGA 1280X1024(17’’LCD显示器,1280X1024分辨率)
-Single frame image display(单核图像显示)
-Frame average integration(帧平均成积分)
System control(系统控制):
-32-bit graphical user interface, with Windows XP keyboard, optical mouse(32位图形用户界面,Windows XP键盘,鼠标)
Installation requirement(安装要求):
-Power(电源)
-Voltage(电压):230V(6%,10%)
-Frequency(频率):50Hz or 60Hz
-Power consumption (耗电量)<15A for basic electroplate (电镀基本系统<15A)
-Earth resistance(地面电阻):<1Ohm
-Environment(环境)
-Temperature (温度):13-30℃
-Relative humidity(相对湿度):≦80%
6.应用案例:
(1)500放大倍率:
(2)5000放大倍率:
(3)10000放大倍率:
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