光焱科技LSD4雷射扫描缺陷图谱仪
优选

光焱科技LSD4雷射扫描缺陷图谱仪

参考价:面议
型号: LSD4
产地: 台湾
品牌: 光焱科技
评分:
核心参数
光焱科技股份有限公司
金牌会员2年
关注展位 全部仪器
展位推荐 更多
产品详情

特征

扫描光生电流的分布

扫描光电压分布

扫描开路电压和短路电流的分布

分析表面污染

分析短路区域的 分布

识别和分析微裂纹区域

分析少数载子扩散长度的分布(选用功能)

应用

螢幕擷取畫面-2024-03-24-102552.webp

螢幕擷取畫面-2024-03-24-103017.webp螢幕擷取畫面-2024-03-24-103017.webp

螢幕擷取畫面-2024-03-24-103232.webp

OPV光响应电流分布图

螢幕擷取畫面-2024-03-24-104324.png       OPV-Photoresponse-Current-Distribution-Map2.png

分辨率为 50 µm 的非均匀性分析

螢幕擷取畫面-2024-03-24-104655.png

母线/栅极纵横比检测(横截面分析)

螢幕擷取畫面-2024-03-24-105119.png

高重复性(6次重复)

螢幕擷取畫面-2024-03-24-105357.png

螢幕擷取畫面-2024-03-24-105428.png

                                        螢幕擷取畫面-2024-03-24-105516.png

规格

项目参数说明。
功能A。利用能量高于半导体带隙的波长激光束在半导体中产生电子空穴对,探索耗尽区对内部电流变化的影响,了解和分析各种缺陷分布,作为工艺改进的方向。

b.能够扫描样品表面光生电流的分布。

C。能够扫描样品表面光电压的分布。

d.能够扫描开路电压和短路电流的分布。

e.能够分析表面污染。

F。能够分析短路区域的分布。

G。能够识别和分析微裂纹区域。

H。能够分析少数载流子扩散长度的分布(可选)。
激励源
405 ±10nm 激光
520 ±10nm 激光
635 ±10nm 激光
830 ±10nm 激光
扫描区域≧100mm×100mm
激光光斑尺寸接近TEM00模式点
测绘分辨率
A。扫描分辨率 ≤ 50 µm
b.扫描分辨率可通过软件设置
测绘时间<4分钟(100mm×100mm,分辨率50um)
方面60厘米*60厘米*100厘米
软件A。 LBIC 3D 可视化
b. 2D 横截面分析(电极纵横比)
c.光电流响应分布分析(与长波长激光源结合)
d.数据保存和导出功能


光焱科技股份有限公司为您提供光焱科技LSD4雷射扫描缺陷图谱仪,光焱科技LSD4产地为台湾,属于量子效率测试系统,除了光焱科技LSD4雷射扫描缺陷图谱仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多量子效率测试系统,光焱科技客服电话400-860-5168转6033,售前、售后均可联系。

相关产品

光焱科技股份有限公司为您提供光焱科技LSD4雷射扫描缺陷图谱仪,光焱科技LSD4产地为台湾,属于量子效率测试系统,除了光焱科技LSD4雷射扫描缺陷图谱仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多量子效率测试系统,光焱科技客服电话400-860-5168转6033,售前、售后均可联系。
Business information
工商信息 信息已认证
当前位置: 光焱科技 仪器 光焱科技LSD4雷射扫描缺陷图谱仪

关注

拨打电话

留言咨询