资料摘要
资料下载薄膜厚度测量仪AF-3000系列：快速测量多种材质的薄膜厚度；最多可测10层膜，精度可达0.1nm；适用于离线、在线、Mapping等多个场景。
Atometrics优可测激光位移传感器SL系列
简介：优可测激光位移传感器SL系列：可测量位移、高度、厚度、高度、机械定位等，测量精度高达微米级。
Atometrics优可测超景深数码显微镜AH-3000系列
简介：优可测超景深数码显微镜AH系列：360度观察分析表面缺陷、金相组织、瑕疵异常、失效分析等，像素高达1200万，一键全幅对焦观察测量。
Atometrics优可测一站式晶圆三维形貌检测机WM系列
简介：一站式晶圆三维检测机WM系列：一站式检测晶圆粗糙度、台阶高度、研磨纹路、切割深度、字符深度等，支持客制化定制。
Atometrics优可测光谱共焦位移传感器AP-5000系列-点激光位移传感器
简介：优可测光谱共焦位移传感器AP系列：玻璃、金属、橡胶等各种材质均可测量，可进行：厚度、翘曲、同轴度、平整度、高度、轴跳动、面型、内径检测以及机械定位等等。
Atometrics优可测3D线激光测量仪AR-7000系列-线扫激光位移传感器
简介：优可测3D线激光测量仪AR系列：可测厚度/平面度/3d轮廓/轮廓度/段差/位置度/共面度/缺陷瑕疵等等，精度最高可达亚微米级。详情请查看产品资料。
优可测白光干涉仪AM-7000系列ER-230-三维形貌测量轮廓仪
优可测超景深数码显微镜AH-3000系列
优可测一键式影像测量仪-闪测仪
优可测台阶仪-非接触光学台阶高度测量仪-亚纳米精度
优可测Atometrics光学薄膜测量设备T050
优可测膜厚仪
优可测一键式图像尺寸测量仪-闪测仪
优可测半透明薄膜厚度测量仪
优可测粗糙度仪轮廓仪-纳米表面粗糙度检测
优可测激光位移传感器SL-5000系列
优可测一键式投影测量仪-二次元/二点五次元测量仪
优可测3D线激光传感器-在线检测3D轮廓/尺寸/平面度
优可测Atometrics薄膜在线测厚仪AF Mapping系列X010
优可测Atometrics薄膜在线测厚仪AF Mapping系列T100
优可测Atometrics薄膜在线测厚仪AF Mapping系列T001
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