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资料下载优可测3D线激光测量仪AR系列：可测厚度/平面度/3d轮廓/轮廓度/段差/位置度/共面度/缺陷瑕疵等等，精度最高可达亚微米级。详情请查看产品资料。
Atometrics优可测一站式晶圆三维形貌检测机WM系列
简介：一站式晶圆三维检测机WM系列：一站式检测晶圆粗糙度、台阶高度、研磨纹路、切割深度、字符深度等，支持客制化定制。
Atometrics优可测光谱共焦位移传感器AP-5000系列-点激光位移传感器
简介：优可测光谱共焦位移传感器AP系列：玻璃、金属、橡胶等各种材质均可测量，可进行：厚度、翘曲、同轴度、平整度、高度、轴跳动、面型、内径检测以及机械定位等等。
Atometrics优可测薄膜厚度测量仪AF-3000系列-膜厚仪
简介：薄膜厚度测量仪AF-3000系列：快速测量多种材质的薄膜厚度；最多可测10层膜，精度可达0.1nm；适用于离线、在线、Mapping等多个场景。
Atometrics优可测一键式影像测量仪FM-9000系列-一键式尺寸测量闪测仪
简介：一键式影像测量仪FM系列：随意摆放被测对象、一键即可测量300个尺寸，可100个产品同时摆放 ；超清成像、灯光丰富、分割至0.005亚像素处理、纳米级别测量平台。 适用于各种工序的产品尺寸测量。
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