| 型号： | LE-1 |
| 产地： | 日本 |
| 品牌： | ALS |
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逆光电子光谱的低能量化实现了高精度 LUMO 水平（电子亲和力）的 测量。
[样品损伤的显著减少]
辐照电子的动能应小于 5eV，这是有机分子的损伤阈值。
[高精度 LUMO 水平测量]
可测量与器件相同的薄膜样品。 • 将电子放松到与传导相关的水平，并直接测量。 实现与光电光谱 （XPS、UPS） 相同的精度。 能量分辨率 0.5eV 或更少。 可重复性 0.1eV 或更少。 测量的光谱反映了状态密度。
[简单设备操作]
● 超高真空规格（10-8Pa 台），通过简单的触摸屏操作自动进行样品输送、排气、测量的操作。
● 通过储存 4 片样品基板 （ 缓冲室 ） ， 可实现高效的测量 。
[简单测量操作]
标准 LEIPS 软件允许通过简单的操作计算自动测量和电子亲和力。
[便利性和可扩展性]
● 与光电光谱 （XPS， UPS） 的对接，以及沉积设备的扩展，可作为标准进行处 理。
● 可无大气暴露的样品基板搬运的载体箱标准设备 。 辐照电子的动能约为 5eV 或更少，作为近紫外光检测。
● 避免 有机样品的损伤
● 可采用高灵敏度的光电倍增管 。采用 Isochromat 模式，可实现高灵敏度、高能量分辨率的介电多层膜带通 滤波器进行光谱。
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