Nanotest导热仪、热导仪TIFAS IR、热成像法缺陷分析仪
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Nanotest导热仪、热导仪TIFAS IR、热成像法缺陷分析仪

参考价：面议
型号： TIFAS IR
产地： 德国
品牌： Nanotest
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核心参数
赛莫特斯(上海)国际贸易有限公司
银牌会员 丨 2年
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产品详情

当热量从器件发热点（源）向环境中传递过程中，偶尔会遇到一些热的阻碍物，通常这些热阻碍物会非常严重的影响器件的可靠性。通过直接观察热的产生和其传递的路径是发现这些缺陷症状的最有效方法。

TIFAS IR是一个高度集成的桌面型红外热成像法失效分析仪，可应用于几乎所有材料的失效分析。通过观察电子器件、系统、复合物、多层聚合物或烧结零配件的全波段光谱来判断其综合结构，如杂质、缺陷以及形貌等。


赛莫特斯(上海)国际贸易有限公司为您提供Nanotest导热仪、热导仪TIFAS IR、热成像法缺陷分析仪，NanotestTIFAS IR产地为德国，属于进口其它物性测试仪器，除了Nanotest导热仪、热导仪TIFAS IR、热成像法缺陷分析仪的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多其它物性测试仪器,赛莫特斯客服电话400-860-5168转5962，售前、售后均可联系。

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售后服务
  • 产品货期： 180天
  • 培训服务： 安装调试现场免费培训；额外提供免费培训
  • 是否提供维保合同： 是
  • 节假日是否提供上门服务： 是

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