| 型号： | MIV-X |
| 产地： | 日本 |
| 品牌： | 华高 |
| 评分： |
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光学成像技术，将超声波振子和频闪观测器相结合，在试样表面使用超声波振荡器振动，表面因超声波传输受到的微小位移用激光照射和光学相机实现可视化，从而根据超声波的间断来检测出缺陷。超声波光学探伤装置MIV-X可以使传统超声检测难以发现的内部缺陷可视化。
超声波光探伤装置MIV-X基于独有的光学成像技术，将超声波振子和频闪观测器相结合，可以轻松、无损地检测材料近表面的缺陷，包括不同材料的粘接剥落、以及油漆、热喷涂和涂层等。
1、独有的光学成像技术：超声波光探伤技术是通过激励试样表面，并以光学方式检测表面位移，从而观测超声波在表面传播情况的技术。
2、任何人都能快速、简单的执行视觉表面检查：只需简单的将超声波振荡器放置于样品上，然后调整相机位置；短时间内即可显示超声波的传输情况，并且从视频中轻松识别缺陷；软件功能丰富、操作简单，标记缺陷、测量尺寸等功能显著增强。
3、与超声波探伤的区别（UT）：超声波光探伤装置MIV-X可弥补超声波检测（UT）难以检测的区域, 擅长表面和近表面区域检测。
-将肉眼无法确认的裂缝、空隙、剥离等隐藏缺陷可视化-
★任何人都能快速、简单的执行视觉表面检查
独有的光学成像技术：超声波光探伤技术是通过激励试样表面，并以光学方式检测表面位移，从而观测超声波在表面传播情况的技术。
只需简单的将超声波振荡器放置于样品上，然后调整相机位置。
短时间内即可显示超声波的传输情况，并且从视频中轻松识别缺陷。
软件功能丰富、操作简单，标记缺陷、测量尺寸等功能显著增强。
该系列包括一个可选的光学变焦组，可以检测较小的缺陷。
超声波光学探伤可以使传统超声检测难以发现的内部缺陷（深度约1 mm）可视化。在涉及多种材料的研发过程中，它可以轻松检测接头和粘合表面的缺陷，这些缺陷是由组合不同的材料来增加强度和减轻重量而产生的。
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